ADC测试方案.pptx

ADC测试ADC产品简单介绍使用场合：无线基站、直放站CT 、核磁共振雷达、军事仪器仪表等市场上主流的ADC产品基本上是TI和ADI的，国内也有一些设计公司和研究所在做，目前国内的技术水平如下：8位ADC采样率超过1Gsps 12位采样率超过300Msps16位采样率超过150Msps静态技术参数DNL-微分线性度DNL = |[(VD+1- VD)/VLSB-IDEAL - 1] |，其中0 D 2N - 2 INL-积分线性度INL是DNL误差的数学积分。Offset Error-偏移误差当输入信号是零时，输出值和理论数值之间差。Gain Error-增益误差当满幅值输出时，输出值和最大理论输出值之间的差。静态参数测试方法方法一使用信号源输出理想斜线信号，然后测得数据进行静态参数计算，但是此方法局限于信号源的品质，对于精度比较高的ADC此种方法，会引入较大测量误差。因为ATE精度较高，所以在量产ATE上用此方法。方法二软件模拟一个理想正弦波，然后通过示波器满幅度输入，采集较大量数据，理想数据和实测数据进行对比，然后计算出静态参数。在实验室精度比较高的电源不好找，但是精度比较高的信号发生器比较容易得到，所以一般用这个方法。这种方法需要采集很多样本，样本越多,测得数据越精确。静态参数matlab计算结果采样时钟：FS=184MSPS待测信号：FIN=1.9MHz样本数据:4百万个动态技术参数信噪比:SNR SNR=20log10(RMS[signal]/RMS[Noise])2. 最大杂散:SFDR SFDR=20log10(Max [spur]/RMS[signal])3. 谐波抑制比:THD THD=20log10(RMS[harmonic]/RMS[signal])SINAD SINAD=20log10(RMS[harmonic]+RMS[signal]/RMS[signal])5. 最大有效位数:ENOB ENOB=(SNR-1.76)/6.02动态参数matlab计算结果采样时钟：FS=184MSPS待测信号：FIN=170MHzBench testADCSPICOM电脑VS2010matlabLVDSLVDSFPGASMASMAUSB3.0GPIB待测信号采样时钟芯片筛选机Bench testPC 软件要求修改采样参数 A. 修改matlab计算参数： 参与计算的点数，采样频率，FFT计算是否加窗等 B. 修改硬件采样参数，如同步or异步, ADC传输模式是DDR or通用并行模式。 C. 设定小规模量产相关参数动态显示被采信号的波形同步/异步采样数据保存采样数据，处理并计算SNR,SFDR,THD,INL/DNL控制采样频率和信号频率，控制采样间隔。通过控制筛选机，实现实验室小规模量产。量产测试装备有测ADC的板卡的ATE有Teradye J750 模拟信号低于2MHzTeradye Ultra Flex 模拟信号1GHzAdvantest 93K 模拟信号1GHzCredence D10 ATE模拟板卡的功能结构图DUTDigitizer任意信号发生器(AWG)