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spc统计基础1
统计基础 statistical process control SPC 统计基础 statistical process control SPC的基本含义是 利用数理统计分析理论,将连续采集的大量工艺参数数据转换成信息,以确认、改善或纠正工艺过程特性,保证产品质量、成品率和可靠性。 定义 根据公司质量手册之要求,统计工艺控制(SPC),是利用统计技术把数据转化成有用的信息,以记录、修正和改进工艺(过程)水平。 当出现工艺能力下降、工艺失控或有失控的倾向时,立即发出警报,以便及时查找原因,采取纠正措施,使工艺一直处于统计受控状态。 SPC的作用 ? 对设计和过程能力进行可靠性的评估 ?????? 统计有助于区分正常波动和异常波动 ?????? 可以依据以往过程的运行情况预测将来过程如何运行 ?????? 降低发现质量问题对检验的依赖性 ?????? 验证问题是否已经永久地纠正了还是需要进一步纠正 ?????? 有助于了解当前过程是否有能力形成100%满足要求的产品。 结果:提高质量和生产率,降低成本 SPC常用术语解释 统计的核心概念 波动 自然界中没有完全相同的东西 波动是指过程中的件与件之间的区别,采集样本的差异。 正是波动的存在,工程师才在技术上要求给出公差 质量控制根本无法完全消除波动,仅测量波动,预测发生的可能性,并不断地降低存在的波动 产品/特性间的波动可分为正常波动(短期的、零件间的差异)和异常波动(发生规则和不规则的变化) 提高质量、生产率、降低成本是我们追求的目标 过程控制的步骤 数据采集 对生产过程进行过程失效模式与影响分析,确定关键工序及其所需测量的工艺参数,并对测点进行参数测量。 确定采集数据和样本抽取方法及控制频率。 数据整理 将采集来的数据根据控制目的进行归类分组 数据分析 根据具体的应用情况,对分组后的数据做适合的控制图,依据控制图的分析方法,对控制图进行分析,达到监测和预测加工工序的目的。 数据分析常用控制图 过程能力 Cp是量度“工序潜能” 。它是量度实际工序的分布范围(或称之为工序的“自然宽限”,普通是六个标准差)与实际工序可容许的分布范围(即上规格界限和下规格界限的距离)。 其中,σ?=计算过程的标准差 σ? = R/d2 R 是子组极差的平均值,d2 是随样本容量变化的常数 USL = 上规格界限 LSL = 下规格界限 Cpk是量度“工序表現”。它考虑的范围包括分布情况和区域。Cpk是与工序表现和规格界限相连。 Cp / Ck 值 指示 1.0 能力不足够 1.0 - 1.33 勉够可以生产 1.33 - 3.0 足够能力 3.0 超卓的能力 变量数据的过程控制 X and R 控制图 这是最常用的控制图。X 图监视工艺平均值的变化。每个点代表一个样本组的平均值。 均值和极差图(X-R) 1、收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告,子组通常包括5件连续的产品,并周性期的抽取子组。 注:应制定一个收集数据的计划,将其作为收集、记录及描图的依据。 1-1 选择子组大小,频率和数据 1-1-1 子组大小:一般为5件连续的产品,仅代表单一刀具/冲头/过程 流等。(注:数据仅代表单一刀具、冲头、模具等 生产出来的零件,即一个单一的生产流。) 1-1-2
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