介电常数测定课件1.docVIP

材料介电性能的测定课件 实验名称：材料介电性能的测定 实验目的： 1、了解高频Q表的工作原理； 掌握室温下用高频Q表测定材料的介电系数和介电损耗角正切值QBG-3D型高频Q表一台，包括电感箱及夹具；千分卡尺；特种铅笔；软布条（或脱脂棉、砂纸；银浆，无水乙醇。Q表测量介电系数和介电损耗角正切的原理 图2 Q表测量原理图 Q表的测量回路是一个简单的R L C回路，如图2所示。当回路两端加上电压V后，电容器C的两端电压为Vc，调节电容器C使回路谐振后，回路的品质因数Q就可用下式表示： 3 R 回路电阻； L 回路电感； C 回路电容。 由上式可知，当输入电压V不变时，则Q与VC成正比。因此在一定输入电压下，VC值可直接标示为Q值。Q表即根据这一原理来制造。变频法 把配用的Q表主调谐电容置于最小电容量，微调电容置于 3pF； 把介质损耗测试装置插到Q表测试回路的“电容”两个端子上； 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（和QBG-3D Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求）； 调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为D0； 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D1，这时样品厚度D2 D1－D0。 把园筒电容器置于5mm处； 改变配合Q表频率，使之谐振，读得Q值（为使以后读数方便，可通过调节Q表定位电位器，使Q值为一个整数）； 先顺时针方向，后逆时针方向，调节园筒电容器，读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值，取这二个值之差，记为M1。再调节园筒电容器，使Q表再次谐振； 取出平板电容器中的样品，这时Q表又失谐，调节平板电容器，使再谐振，读取测微杆上的读值D3，其变化值为D4 D3－D0。 和h款操作一样，得到新的二个值之差，记为M2。 计算测试结果 被测样品的介电常数： D2 / D4 18 被测样品的损耗角正切值： tg ＝K M1－M2 / 15.5 19 式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.33 / mm，每个测试夹具在盒盖内标有具体数值。一般按以上公式计算的结果，其精度和重复性是能满足的，但对介电常数大的被测样品（即样品从平板样品放入和取出，平板电容器刻度值变化较大），边缘效应电容对测试会有较显著的影响，这时可按下列公式计算： C2 + CF2 CF /C1 20 tg ＝K M1 M2 / 3.46 C2 + CF2 CF / C1 21 式中：C1 D1刻度时平板电容器空气介质电容量； C2 D3刻度时平板电容器空气介质电容量； CF1 D1刻度时的边缘效应电容量； CF2 D3刻度时的边缘效应电容量。 、实验结果处理 实验数据记录 实验条件及测定数据应包含下表所示的内容： 表3 测定数据记录表 试样 预处理条件 测试条件 形状 尺寸/mm 数量/个 温度/ C 相对湿度/% 时间/h 仪器型号 环境温度/ C 电感分布电容/ F 测量电极直径/m 表5 变频法数据记录表序号 测量数据 计算结果 D0 D1 D2 D3 D4 M1 M2 tg 104 平均值 1 2 3 4 5 2、数据处理 材料的相对介电常数 和介质损耗角正切tg 分别用式 18 、式 19 来计算，C0是电感线圈的分布电容。实验结果以各项试验的算术平均值来表示，取两位有效数字，tg 的相对误差要求不大于0.0001。