数字电路实验指导书讲解.doc

数字电子技术 实 验 指 导 书  学生实验守则 1.遵守实验各项管理制度，服从教师及管理人员的管理。2.按时上课，不得旷课、迟到或早退。请假需提交假条。3.注意着装整洁。保持实验室安静，严禁喧哗、打闹。4.不得乱丢废弃物、吃零食，保持室内整洁卫生。5.实验室内严禁吸烟。6.严格遵守设备的操作规程，爱护实验室各种仪器设备，不得随意挪动仪器设备。因违规操作，损坏仪器设备需按规定进行赔偿。7.实验前必须预习实验内容，写出预习报告。8.电路接线或焊接完成后，须经教师检查同意后，方可通电。9.实验过程中出现异常情况，应立即切断电源，报告教师处理。10.实验过程中改变连线或焊接，必须先关闭电源。11.实验结束后，整理好工作台面、仪器设备，填写实验，经教师检查允许后，方可离开。12.在实验室上课时，不得从事与教学活动无关的其它活动。13.违反上述规定者，教员有权取消其上实验课资格，并视情况轻重，按学校有关规定进行处罚。实验报告包括 1、院（系）别，班号，学号，组号，实验人姓名，同组人姓名，实验日期。 2、实验目的。 3、仪器、仪表目录：包括仪器设备的型号和规格，集成芯片的型号等。 4、实验设计任务与实验步骤。 5、实验内容：包括原始设计电路图，原始数据记录，正确的实验电路图，实验数据的处理，波形图及参数。 6、实验结果的分析、电路的改进和问题探讨。 （1）设计原理与设计要求分析。 （2）实验数据、波形的误差分析，故障分析与故障排除的描述等。 （3）实验中的电路改进，旨在开拓学生创新思路、提出新的方案。 7、思考题 实验后的思考题拓展学生的思维空间，有力于培养学生的创造性思考能力。 要求采用学校统一格式实验报告纸完成。 常用集成器件外形管脚示意图 实验一 门电路功能测试及应用 一、实验目的 1．熟悉集成芯片引脚识别方法。 2．利用集成电路手册，查阅芯片资料，了解芯片逻辑功能，从而进一步使用该芯片。 3．熟悉、掌握门电路的逻辑功能测试方法 二、实验仪器 1．数字电路实验箱 2．数字万用表 三、实验原理 74LS20为双四输入端与非门（引脚图见附录），原理示意图如图1-1所示，只有1、2、4、5脚输入均为高电平时，6脚输出为低电平，否则，均为高电平。 74LS55为与或非门（引脚图见附录），原理示意图如图1-2所示，其输入输出关系为 对某一逻辑表达式经逻辑变换，可以由特定芯片实现其功能。例如：或门的逻辑函数表达式为，可以写成，因此可以用三个与非门（可选74LS00芯片，引脚功能图见附录）构成或门。 四、实验步骤及内容 实验前的准备：在数字电路实验箱未接任何器件的情况下（指实验用插座部分），先合上交流电源，检查５V电源是否正常，再合直流电源测VCC处电压是否正常，测两排插口中间VCC插口处电压是否正常，全正常后断开全部电源。 随后选择好实验用集成片，查清集成片的引腿及功能，然后根据实验图接线，特别注意VCC及地的接线不能接错，待老师检查后方可接通电源进行实验，以后使用数字电路实验箱时可参照此办理。 （一）测与非门的逻辑功能 1．选双４输入与非门74LS20（电源电压+5V）集成芯片一块；选择一个组件插座（片子先不要插入）按图1-1接好线。 2．输入端接电平开关输出插口，输出端接发光二极管显示插口。 3．拨动电平开关，按表1-1中情况分别测出输出端电平（用万用表监测输出电压，用发光二极管监测输出逻辑状态）。 表1-1 输入端 输出端 １ ２ ４ ５ ６ 电压(V) 逻辑状态 １ １ １ １ ０ １ １ １ ０ ０ １ １ ０ ０ ０ １ ０ ０ ０ ０ （二）测试与或非门的逻辑功能 1．选与或非门电路74LS55（电源电压+5V）集成芯片一块；选择一个组件插座（片子先不要插入）按图1-2接好线。 表1-2 输入端 输出端 1 2 3 4 10 11 12 13 8 电压（V） 逻辑状态 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 2．输入端接电平输出插口，拨动开关当输入端为表1-2情况时分析测试输出端的电位和逻辑状态，将结果填入表1-2中。 （三）、利用与非门组成其它门电路并测试其逻辑功能 1．组成或门电路 根据摩根定理，或门的逻辑函数表达式，可以写成，因此可以用三个与非门构成或门。 （1）画出测试电路。 （2）选择74LS00（电源电压+5V）芯片，根据画出的测试电路接线，