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  • 2016-12-07 发布于重庆
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《數字电子技术》实验手册

数字电子技术 实验手册 云南师范大学信息学院 2012.8 实验一 门电路 实验目的 1、验证常用TTL门电路的逻辑功能; 2、熟练掌握常用仪器仪表的使用。 二、实验内容 完成与非门、或非门、与或非门、异或门及非门逻辑功能测试 三、实验设备及器件 1、数字电路实验台 1台 2、集成电路芯片 74LS00(二输入四与非门) 1片 74LS02(二输入四或非门) 1片 74LS51(双2-3输入与或非门) 1片 74LS86(二输入四异或门) 1片 74LS04(六非门) 1片 四、实验步骤 1、与非门逻辑功能测试 用74LS00二输入四与非门进行实验。 按图1接线。 图1 与非门逻辑功能测试电路 按表1要求通过开关改变输入端A与B的电平值,将输出端测试结果填入表中。 表1 与非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态( 灯亮 为“1”,灯灭为“0” ) 0 0 3.6 1 0 1 3.6 1 1 0 2.8 1 1 1 0.17 0 2、或非门逻辑功能测试 用74LS02二输入四或非门进行实验。 (1)按图2接线。 图2 或非门逻辑功能测试电路 按表2要求通过开关改变输入端A与B的电平值,将输出端测试结果填入表中。 表2 或非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态( 灯亮为“1”,灯灭为“0” ) 0 0 3.5 1 0 1 0.2 0 1 0 3.2 1 1 1 0.1 0 3、与或非门逻辑功能测试 用74LS51双2-3输入与或非门进行实验。 按图3接线。 图3 与或非门逻辑功能测试电路 按表3要求通过开关改变输入端A、B、C与D的电平值,将输出端测试结果填入表中。 表3 与或非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A B C D 电压(V) 逻辑状态( 灯亮为“1”,灯灭为“0” ) 0 0 0 0 3.3 1 0 0 0 1 0.2 0 0 0 1 1 0.1 0 0 1 1 1 0.1 0 1 1 1 1 0.1 0 4、异或门逻辑功能测试 用74LS86二输入四异或门进行实验。 按图4接线。 图4 异或门逻辑功能测试电路 按表4要求通过开关改变输入端A与B的电平值,将输出端测试结果填入 表中。 表4 异或门功能测试表 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态( 灯亮为“1”,灯灭为“0” ) 0 0 0.1 0 0 1 2.7 1 1 0 0.9 0 1 1 0.1 0 5、非门逻辑功能测试 用74LS04六非门进行实验。 (1)按图5接线。 图5 非门逻辑功能测试电路 按表5要求通过开关改变输入端A与B的电平值,将输出端测试结果填入 表中。 表5 非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A 电压(V) 逻辑状态( 灯亮为“1”,灯灭为“0” ) 0 3.5 1 1 0.1 0 五、思考题 如何利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”?试用门电路符号画出电路图。 六、实验要求 1、独立完成实验。 2、按规定的格式完成实验报告书写,要求给出每一个实验电路及测试结果。 实验二 组合逻辑电路(基于SSI) 一、实验目的 1、掌握基于TTL门电路的组合逻辑电路的设计方法; 2、掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 二、实验内容 一位二进制全加器电路设计及功能测试。 三、实验设备及器件 1、数字电路实验台 1台 2、与非门芯片 若干 四、实验步骤 1、运用数字逻辑的基本原理,选用与非门电路设计一个一位二进制全加器。 2、参照设计好的电路图,完成电路接线。 3、根据设计要求完成电路逻辑功能验证。 五、思考

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