4多晶体分析.ppt

4 在粉末法中由于试样中存在着数量极多的各种取向的晶粒。总有一部分晶粒的取向恰好使其（hkl）晶面正好满足布拉格方程，因而产生衍射线。衍射锥的顶角为4θ。 5 每一组具有一定晶面间距的晶面根据它们的d值分别产生各自的衍射锥。一种晶体就形成自己特有的一套衍射锥。可以记录下衍射锥θ角和强度。 反装法：底片开孔位置同上，底片安装时光栏穿过中心孔. 特点是弧线亦呈左右对称分布，但高角度线条位于底片中央。它比较适合于测量高角度的衍射线。由于高角线有较高的分辨本领，故适合于点阵常数精确测定。 (3)其它参数的选择 管电压: 靶元素的K系标识谱出现的最低电压为该元素的K系临界激发电压,当管电压为临界激发电压3~5倍时,标识谱与连续谱的强度比可达到最佳值,为选用电压范围. 管电流: 射线管的额定功率除以管电压即为许用最大管电流,工作时不能超过. 暴光时间: 由实验确定,变化范围较大. 对高角度区2φ=180-2θ φ=90-θ 相机直径57.3mm 相机直径114.6mm 得到θ角之后，可通过布拉格方程求得每条衍射线的d值。 德拜相机误差与修正 主要讨论两种主要误差:试样的吸收误差和底片伸缩误差. (1)试样的吸收误差 试样对射线的吸收将使衍射线偏离理论位置,必须加以考虑.对于金属材料吸收较强烈,使照射深度不超过0.02mm,可认为仅是样品表面受到照射. 入射线照射到半径为r的样品上,产生一个顶角为4θ的衍射圆锥,在底片上记录的弧对平均理论距离为2L0(见下图). X射线只能照射到样品的半个园柱表面,参与形成圆锥面的物质只是其中的一部分,并由园柱面的两根切线(包括入射线和衍射线)所限定.在底片上将形成有一定宽度的衍射线条. 由于样品吸收,衍射线弧对距离较理论值大,如测量弧对外缘距离2L外缘,可得到简单的关系: (2)底片伸缩误差 理论的计算为:Θ=2L·90°/2πR 由于相机直径制造误差,或底片未紧贴相机内腔,或底片在显影定影及干燥时的收缩或伸长等,都将影响θ的测定结果. R的校正:偏装法有效周长C0修正2πR C0=A+B= 2πR 2L的校正:采用经吸收校正:2L0= 2L外缘-2r计算 Θ=2L0·90°/C0 (4)实际标定工作 (1)对各弧对进行标号:从低角度区起,按递增的顺序标记为1-1′,2-2′,3-3′等. (2)测量有效周长C0:在高低角区分别选出一个弧对,按图进行测量,计算出C0 （３）测量并计算弧对间距: 对于低角度线条,只要测得弧线外缘距离,按2L外缘=2Lo+2r就可以计算出真实2Lo. 对于高角度线条,如5-5′,测量2L5有困难,可以改测2L5′,再根据有效周长计算2L5=C0- 2L5′，再进行吸收修正． （４）计算θ系列． （５）计算d：按布拉格方程计算 （６）估计各线条的相对强度I/I１, I１指最强线，I为任一线条的强度． （７）查卡片，根据得到的d系列与I系列，对照物质的标准卡片，如果两项均与某卡片很好的符合，则该卡片物质即为待定物质．其中d系列为主要依据． （８）标注衍射线指数，判别物质的点阵类型． （９）计算点阵参数． X射线衍射仪是广泛使用的X射线衍射装置。1913年布拉格父子设计的X射线衍射装置是衍射仪的早期雏形，经过近百年的演变发展，今天的衍射仪图如下。 X射线衍射仪的主要组成部分有X射线衍射发生装置、测角仪、辐射探测器和测量系统，附件包括计算机、打印机等。 为了能增大衍射强度，衍射仪法中采用的是平板式样品，以便使试样被X射线照射的面积较大。这里的关键：* 一方面试样要满足布拉格方程的反射条件。* 另一方面还要满足衍射线的聚焦条件，使整个试样上产生的X衍射线均能被计数器所接收。 正比计数器所绘出的脉冲大小（脉冲的高度）和它所吸收的X射线光子能量成正比。 正比计数器性能稳定，能量分辨率高，背底脉冲极低。 正比计数器反应极快，它对两个连续到来的脉冲的分辨时间只需10-6秒。 正比计数器的缺点在于对温度比较敏感，计数管需要高度稳定的电压，又由于雪崩放电所引起电压的瞬时脱落只有几毫伏，故需要强大的放大设备 。 闪烁体是一种在受到X射线光子轰击时能够发出可见光荧光的晶体，最常用的是用铊活化的碘化钠Nal（TI）单晶体。 光电倍增管的作用则是将可见光转变为电脉冲。 脉冲的大小与X射线的能量有关，因此，可象正比计数器那样，用一个脉高分析器，对所接收的脉冲按其高度进行甑别。也可排除其它波长的幅射影响。 闪烁计数器反应很快，分辨时间达10-8秒。因而在计数率达到10-5次/秒以下时，不会有计数的损失。 缺点是背底脉冲高。因为即使在没有X射线光电子进入计数管时，仍会产生“无照电流”的脉冲。来源为光敏阴极因热离子发射而产生的电子。 闪烁计数器的价