X射线荧光光谱法测定黄铜中铜铅铁铋锑磷砷.docVIP

X射线荧光光谱法测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷 应晓浒 曹国洲 王谦 孙立群 （宁波出入境检验检疫局，宁波，315012） 摘要 采用波长色散X射线荧光光谱仪测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷。试验了试样表面质量对测量结果的影响，并对黄铜中元素间的吸收增强效应进行了较仔细的分析，吸收效应对黄铜的分析结果有较大影响，需用理论α影响系数进行基体效应校正。 采用本法测量了49个黄铜标准样品（29个普通黄铜和加砷黄铜，20个特殊黄铜）进行准确性试验，普通黄铜和加砷黄铜的分析结果与标称值相符。本文还给出了方法的实验室内和实验室间的精密度试验结果。 关键词 X射线荧光光谱，黄铜 中图分类号：O657.34 文献标识码：A 黄铜元素分析的国家标准为GB/T5121《铜及铜合金化学分析方法》[1]，其中铜采用电解-原子吸收光谱法；铅采用原子吸收光谱法；铋富集后采用原子吸收光谱法；铁、锑、磷、砷采用分光光度法。上述方法存在操作复杂、分析时间长、不能多元素同时分析等缺点。 X射线荧光光谱分析技术具有较好的测量精密度，已有分析人员将该技术应用于青铜中铜、铅、锡等元素的分析[2,3]。为制定“黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷的测定-X射线荧光光谱法”的检验检疫系统行业标准，本文对X射线荧光光谱分析黄铜的方法进行了较仔细的研究，试验了试样表面质量对测量结果的影响，并采用理论α影响系数进行基体效应校正，获得了较好的结果。 1 实验方法 1.1 仪器及测量条件 SRS3400型顺序式X射线荧光光谱仪,铑靶X光管,功率4kW，德国Bruker公司制造，测量条件见表1。 表1 X射线荧光光谱仪的测量条件 元素 特征谱线 晶体 峰位 (o) 背景位 (o) kV/mA 狭缝 (o) FCPHA (%) SCPHA (%) 测量时间（s） Cu Kα LiF220 65.484 66.707 60/20 0.15 34~130 40~150 30 Pb Lβ LiF200 28.223 27.590 60/67 0.15 45~115 50~150 30 Fe Kα LiF200 57.505 56.244 60/67 0.15 31~128 50~150 30 Bi Lα LiF220 47.315 46.881 60/67 0.15 86~120 81~123 60 Sb Kα LiF200 13.402 12.978 60/67 0.15 / 55~134 60 P Kα Ge 141.138 137.541 30/135 0.46 66~123 / 30 As Kβ LiF200 30.419 29.592 60/67 0.15 79~113 44~136 30 1.2 试样的制备 试样为块状样品，其X射线照射面须加工至表面粗糙度小于GB/T1031[4]规定的轮廓最大高度（Ry）6.3μm。校准样品和待测样品采用同样的加工方法，试样表面加工完毕立即测量。 1.3 测量 按所定的测量条件测定5个以上普通黄铜和加砷黄铜标准样品的X射线荧光强度，按公式1进行回归，求出校准曲线的斜率、截距和谱线重叠校正系数，用随机分析软件SpectraPlus中的理论α影响系数法进行基体效应校正，计算时将锌设定为余量 。 Ci=s×（Ii+βij×Ik）×（1＋∑αij×Cj）＋b ……（1） 式中： Ci、Cj ：测量元素和影响元素的浓度 S、b ：校准曲线的斜率和截距 Ii ：测量元素的X射线荧光强度 βij ：谱线重叠校正系数 Ik ：重叠谱线的理论计算强度 αij ：影响元素对测量元素的理论α影响系数 2 结果与讨论 2.1 试样表面质量的影响 2.1.1 不同牌号金相砂纸研磨对测量结果的影响 日本工业标准JIS H1292《铜及铜合金的X射线荧光分析方法》[5]中要求试样的X射线照射面须加工至表面粗糙度小于JIS B0601规定的轮廓最大高度（Ry）6.3μm。 精车、精铣、精刨或金相砂纸研磨等方法都可以把试样加工至表面粗糙度小于Ry6.3μm。本文对金相砂纸研磨方法进行了试验，表2是同一个试样经不同牌号金相砂纸研磨后分析结果的比较，从表中可以看出，不同牌号金相砂纸研磨对磷的影响很大，随着砂纸变细，试样的表面越平整，磷的分析结果越高，抛光后的试样的分析结果比120号砂纸研磨的结果高近1倍，同时，铜的分析结果也在变大，虽然相对偏差较小，但由于铜是主量元素，绝对偏差也有约0.1％。 上述试验表明，即使试样的表面粗糙度小于Ry6.3μm，试样的表面质量的变化仍对测量结果（尤其是磷）有明显影响。有研究[6]发现，X射线荧光谱分析金属材料时，不同的表面加工方法测量结果不同，