材料研究分析方法2-本科生课件.ppt

4、1931年貌相术出现和50年代末貌相术发展和应用，60年代出现的X射线干涉仪及应用。 晶体中局部缺陷：位错、层错、磁畴界、亚晶界、杂质的偏析等导致点阵畴?发生衍射强度的增强、减弱?造成局部的消光衬度或取向衬度?可以探明晶体的完整程度，测定缺陷的种类、分布、组态密度以及应力量及其指向，进而能够了解天然与人工合成晶体的手掌规律，研究缺陷的成因、运动、交互作用?X射线衍射衬貌相学。 5、20世纪60年代以来辛一代的辐射源和探测器设备进入实验室，X射线衍射获得新的生命力，发展了同步辐射X射线掠入射的表面结构分析术?对单原子层非常灵敏，因此GXIS已成为比低能电子衍射（LEED）研究表面结构更有效的方法。 衍射特点： 应用特点：广泛的晶体结构测定，在物理、化学、地学、材料科学、生命科学和各种工程技术中广泛应用： 1、在单晶材料方面 2、在金属、陶瓷、建筑材料、矿物等方面的研究 3、根据X射线定性、定量物相分析以及晶格常数随固溶度的变化等来测定相图或固溶度。 4、根据X射线衍射线的线形及宽化程度等来测定多晶试样中晶粒大小、应力和应变情况等。 特征X射线波长取决于阳极靶元素的原子序数，实验证明： （1）管电压超过激发电压时才能产生该元素的特征谱线，且靶元素的原子序数越大，其激发电压越高； （2）每个特征谱线都对应于一个特定的波长，不同阳极靶