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第一章晶体结构 §1.9晶体衍射的一般介绍 概述 应用广泛 凡是涉及物质的研究，无论是结构还是组成成分，都可利用X射线衍射，该技术已成为材料研究的常规手段。一般用于衍射分析的X射线波长在0.5~2.5 ?之间。 晶体物质物相成分的定性和定量分析 晶体物质的晶体结构和分子结构测定 发展历史 1895年德国物理学家伦琴发现X射线 1912年德国物理学家劳厄通过实验证实它是一种波长很短的电磁波，波长范围在0.01~100? 1912年，英国物理学家布拉格父子（W. H. Bragg和W. L. Bragg）将X射线用于晶体分析，并推导出了著名的布拉格公式。 X射线与物质的相互作用 X射线与物质的相互作用 相干散射 只引起X射线方向的改变， 不引起能量变化的散射，是X射线衍射的物理基础。 康普顿散射 既引起X射线光子方向改变，也引起其能量的改变的散射，此过程同时产生反冲电子（光电子）。在衍射花样中带来背景。 X射线与物质的相互作用 光电效应和荧光辐射 受激原子产生二次辐射（二次标识X射线）和光电子（光电效应），入射线的能量因此被转化从而导致衰减。二次辐射又称为荧光X射线，是受激原子的特征射线，与入射线波长无关。荧光辐射是X射线光谱分析的依据，同时在衍射花样中带来背景。 俄歇效应 二次光电子，该电子的能量仅依赖于物质原子的能级结构。每种元素都有一定的特征俄歇电子能谱。利用俄歇电子可分析物质表面两三个原子层的元素成分分析。 热能 入射光子的能量被吸收，却没有激发出光电子，能量转变为物质中分子的热振动能，以热的形式成为物质的内能。 布拉格方程 发生衍射的条件 nλ=2dsinθ 结构因子与系统消光 具体概念区分 1，原子散射因子： 原子内所有电子的散射波的振幅的几何之和与一个电子的散射波的振幅之比。 对于不同的原子，由于其所含的电子数目和分布情况不同，因此不同原子的散射因子也各不相同。一般说，原子中的电子越多，与X射线的相互作用越强。 2，几何结构因子： 决定衍射强度的因素除散射中心的散射能力外，还有来自原胞中各个不同散射中心的散射波之间存在的干涉作用，由这一因素决定的散射能力可用几何结构因子来概括。 定义：一个原胞内所有原子的散射波振幅的几何之和与一个电子散射波的振幅之比。 所以几何结构因子不仅与原胞内的原子的散射因子有关，而且还有赖于原胞内原子的排列情况；同时其数值也与所考虑的散射方向有关。 简单点阵没有点阵消光现象；带心点阵才会出现系统消光；化合物的一个基元中由于有不同原子产生更复杂的结构系统消光。 4.2 Experimental MethodsRotating crystal method:（转动单晶法）Single wavelength, single crystal sample很容易确定基矢和原胞。 Powder Photograph (Debye-Scherrer method):（德拜法或粉末法）Single wavelength, powder target sample用来确定多晶体的类型和晶格常数的大小，还可以用来分析未知相的结构。 Laue Photographe:（劳厄法）Spectrum of wavelength, single crystal sample 入射光是X射线连续谱，晶体固定不动。不宜用劳厄法确定晶格常数。 二维面探测器X射线衍射仪 完整配置 多晶与非晶态衍射花样 点阵常数的精确测定 任何晶体物质在一定状态下，都有特定的点阵常数。 当外界条件(如温度、成分和应力)改变时，点阵常数也会相应地变化。 用X射线衍射方法则定晶体物质的点阵常数是一种间接的方法，它的实验依据是衍射图谱上各条衍射线的位置2θ值，然后利用布拉格方程和各个晶系的面间距公式，求出该品体的点阵常数。 由布拉格方程可知，点阵常数值的精确度取决于sinθ这个量的精确度，而不是θ角测量值的精确度。由三角函数表可以得知，当θ接近90度时，sinθ值随θ的变化是极缓慢的。因此，当衍射线位置的测量误差Δθ一定时，越是靠近90度的衍射线，其Sin θ 值误差越小，由此计算出的点阵常数也就越精确。 尽管θ值越趋近90度，点阵常数的精度越高，但是在实验过程中误差毕竟存在，应尽量设法消除。误差可以分为系统误差和偶然误差两类。 系统误差是由实验条件所决定的，它是随某一函数作有规则的变化。 偶然误差是由于测量者的主观判断错误以及测量仪表的偶然波动或干扰引起的，它既可以是正，也可以是负，没有任何固定的变化规律。偶然误差永远不能完全排除，但是可以通过多次重复测量使它降至最小。 * 1、衍射方程 方程的意义：当衍射波矢和入射波矢相差一个或几个倒格矢时，就满足衍射加强条件。n称为衍射级数，