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基于嵌入式技术的太阳电池I—V性能测试仪 0引言 太阳电池I—V性能测试仪按照在太阳电池生产工艺流程中的不同应用可以分为单体测试仪、组件测试仪和光伏阵列测试仪，主要用于太阳电池电学性能的检测，根据测试结果可以控制工艺过程，提高电池质量。它是太阳能电池生产不可缺少 的重要设备。目前市场上传统光伏电池的伏安特性测试设备是采用电子负载和上位机组合的方式搭建，成本较高，设备笨重，操作不方便。鉴于此，采用嵌入式手持技术，设计出一款自带触摸屏的手持式I—V性能测试仪，选择合适的太阳模拟光源可以适用于太阳电池单体和组件的I—V性能测试。 1 系统硬件结构设计 太阳电池I—V测试仪硬件电路主要由前端取样电路、信号调理电路、偏置电路、微控制器(CPU)、存储器和LCD组成。系统总体结构如图I。取样电路取样四路信号，分别是电流信号、电压信号、光强信号、温度信号，经过调理电路放大处理后送入CPU中进行数据处理，处理结果存入存储器，并通过LCD显示器实时显示出来。USBhost用于测试结果数据的下载。系统微控制器(CPU)选用的是基于ARM920T体系构架的S3C2440，内存芯片选用了2片8位共128MB NandFlash非易失性存储器。温度传感器使用单总线温度传感器DSl8820。DSl8820直接输出9位字节温度信号，精确到±0．5℃，满足国家标准关于I—V测试仪温度精度的需要‘1|。光强传感器使用的是硅光二极管2DU3，有效响应波长范围为200—1300 nm．LCD使用3．5英寸肿触摸屏显示器。 1．1$3C2440简介 $3C2440是一款面向手持设备的微处理器芯片，它具有高性能、低功耗、高集成度并具有工业级温度范围和性能的优点。外部集成丰富的I／O口，可以通过配置寄存器作为复用输出口使用。集成LCD控制器，支持64K色T丌触摸屏。集成Nand．flash控制器，通过配置，支持从Nandflash启动。集成8通道l0位A／D转换器，最高转换速度可达500KSPS．集成USB控制器。因此选用$3C2440可以大大简化该测试仪系统外围电路的复杂性，有利于系统的稳定工作。 I．2 I—V信号取样电路的设计 测试系统电压、电流取样电路使用电容充放电回路代替电子负载，以降低测试仪成本。当充电回路导通瞬间。电容充电电流最大，可以视为短路，充电结束后，电流为零，电容两端电压等于太阳能电池开路。通过连续采集得到完整的I—V曲线。电压，电流取样电路结构如图2所示。国标要求”1非晶硅太阳能电池采样点数必须大于1 000个。由电路理论可以求得充电回路充电时间由下式决定： 选用电容为200 p．F，回路电阻(考虑PCB走线电阻和场效应管饱和导通电阻)实际约为5 n，所以得到实际充电时间约为5 IIls，$3C2440在5 IIls内可以采样2 500点，能够满足测试精度需要．实际印刷线路板上测得的充电过程如图3所示。 1．3光强信号取样电路的设计 光强信号取样电路使用硅光二极管2DU3作为光强传感器。2DU3光谱范围广，基本覆盖太阳光谱范围，常作为光辐照度计的光传感器元件。2DU3在AMl太阳光照下短路电流为500曲，利用2DU3组成的光强测试原理电路结构如图4所示。 1。4信号调理电路的设计 信号调理电路主要由级间耦合电路、信号放大电路和过载保护电路组成。耦合电路主要作用是吸收电路噪音．消除前后级之间的影响，保证信号的准确传递。由集成运放构成的放大电路对取样信号进行幅度调理，以满足$3C2440输入A／D转换接口的电平要求。过载保护电路通过过载告警并掉电的方式对电路进行保护，以防止因输人信号过大对电路造成破坏。此外为了降低电源芯片功耗，保证电路稳定工作，设计了4个阶梯的电源结构。测试仪输入电源为19 v，依次转换为12V、5 V、3．3 V和1．25 V，分别用于调理电路、LCD、$3C2440通用I／O 121和内部核心电源。实际测试表明系统满载总功耗小于8 W． 2测试系统软件设计 系统软件主要包括嵌人式系统的引导加载程序即Boot．10ader，操作系统内核与文件系统，测试界面程序3个部分。在测试仪中使用嵌入式操作系统能够进行系统进程调度和文件管理，从而有利于测试仪稳定工作．并能有效降低测试仪功耗。 2．1操作系统移植 Boodoader是测试仪上电运行的第～段代码，主要任务是初始化系统、配置操作系统启动参数、调用操作系统内核。选用了UBoot 1．3．2和Linux2．6 29版本内核以及Nandflash专用文件系统Yaffs，使用嵌入式交叉编译工具arm—linux—gcc进行了编译，在测试仪中快速移植了嵌人式Linux操作系统。 2．2测试界面程序设计 测试界面程序结构主要包括初始化子程序、太阳能电池l—V特性测试子程序、光强测