超声波无损检测I级第七部分.pptVIP

缺陷定位 缺陷定位 三种调节方法:深度、水平距离、声程 缺陷定量 距离-分贝（dB）曲线（实用AVG曲线）： 下图6-3平底孔实用AVG曲线 缺陷定量 以横坐标表示实际声程，纵坐标表示规则反射体相对波高，用来描述距离、波幅、当量大小之间的关系曲线，称为实用AVG曲线。 1、曲线作法： 不同距离的太平底回波dB差 不同距离的不同大小平底孔回波dB差 同距离的大平底与平底孔回波dB差 缺陷定量 用以上公式计算绘制实用AVG曲线时，要统一灵敏度基准例如图6-3是x=750mm，φ2平底孔为0dB。 实用AVG曲线曲线特点： 实用AVG曲线中x≥3N部分，可由理论公式计算得到，还可由实测CS-Ⅱ试块得到或由通用AVG进行转换得到，但χ3N的区域只能通过实测得到。 由于实用AVG曲线是由特定探头实测和计算得到的，因此实用AVG曲线也只适用于特定探头。在实用AVG曲线中要注明探头的尺寸和频率。 缺陷定量 实用AVG曲线曲线应用： 实用AVG曲线同样可用于调整探伤灵敏度和对缺陷定量，而且比通用AVG曲线方便。 对于垂直线性良好的仪器，波高与声压或正比，将AVG曲线直接绘制在仪器示波屏面板上，称为AVG面板曲线，其纵坐标表示回波高，横坐标表示距离。 利用AVG面板曲线来调整探伤灵敏度和对探伤中发现的缺陷定量十分方便。 例：用2.5MHz、φ20mm直探头探测饼形钢锻件，锻件厚650mm，探伤中在500mm处发现一缺陷，缺陷波高比大平底回波低31dB。问：(1)如何利用底波调整φ2灵敏度?(2)求缺陷的当量大小? 缺陷定量 解：(1)灵敏度的调整： 如图6-3所示，在x=650mm处作垂线交φ2曲线于E、交B曲线于F，则EF对应的分贝值△=48dB就表示该处大平底与φ2平底孔回波分差。?? (2)对缺陷定量： 如图6-3所示，在xf=500mm处作垂线与比F点低31dB的水平线相交于Q点，则Q点所对应的曲线的当量尺寸φ4就是所求缺陷的当量大小。 缺陷定量 影响缺陷定量的因素 1. 仪器、探头性能影响 ⑴频率偏差 ⑵衰减器精度和垂直线性的影响 ⑶晶片尺寸（影响N大小） ⑷探头K偏差（往复透过率与入射角有关）。 2.耦合与衰减的影响 ⑴耦合的影响：①耦合剂声阻抗、②耦合层厚度 ⑵衰减的影响 缺陷定量 3.工件几何形状和尺寸的影响 ⑴工件底面形状：平正常、凹发散、凸聚焦； ⑵检测面与工件底面平行度、底面粗糙度、干净程度； ⑶临近侧壁缺陷； ⑷近场区内缺陷。 缺陷定量 4.缺陷的影响 ⑴缺陷形状的影响 ⑵缺陷方位的影响 ⑶缺陷波指向性 ⑷缺陷表面粗糙度的影响 ⑸缺陷性质的影响 ⑹缺陷位置的影响 噪声和非缺陷回波的判别 噪声： 1.仪器的噪声 2.探头的噪声 3.耦合层的噪声 4.工件的噪声 * 缺陷定量 2.缺陷尺寸的评定 利用缺陷反射波高、沿工件表面缺陷延伸范围、存在缺陷时底波回波变化等信息对缺陷尺寸进行评定。 ⑴、当量法 适用于小于声束截面缺陷的当量测定。 ①.当量试块比较法 方法：将人工缺陷（试块上标准反射体）与工件中自然缺陷回波比较，定出的缺陷当量。 要求： a.加工一系列不同声程，不同形状（平底孔或横孔），不同尺寸（直径不同）试块，将自然缺陷声程与试块上声程相近的反射体比较。 b.试块与工件材质相近或相同，光面光洁度，工件形状相同或一致。 C. 探测条件一致，仪器、探头、灵敏度一致。 优点：直观，测得当量值较明确。 缺点：要做大量试块，成本高。 对X3N时做试块不易，故仅在X≤3N时应用。 * 缺陷定量 ②.当量计算方法 △当量：不同类型和不同大小的工件中的任何缺陷反射回波高与同声程的某标准（规则）反射体的反射回波高相同时，则该标准（规则）反射体的类型和尺寸即为该缺陷的当量。 △由于实际缺陷的几何形状，表面状况、方向，缺陷性质各不相同，其声吸收、声散射比标准规则几何反射体复杂的多。 一般实际缺陷总比所定的当量值大3~5倍，或更多。 当量计算方法： 利用规则形状反射体回波声压与缺陷回波声压（缺陷波高dB值）进行比较得到缺陷当量。 基本公式：（各标准反射体回波声压） 大平底： * 缺陷定量 平底孔： 长横孔： 短横孔： Lf-短横孔长，Df-短横孔直径。 球孔： * 缺陷定量 具体计算： 用公式计算：应根据缺陷波高与所定探伤灵敏度比较或和底波高比较，再与探伤灵敏度比较。 计算时应考虑： ① 材质衰减。 如题中不考虑，就不管。如题中告诉衰减，要弄清是双程还是单程的。 ② 是否要不同孔型之间相互换算。 如灵敏度为平底孔，题中要求求出长横孔当量，这要互换。 X≥3N近似