信号质量测试规范V1.10简析.docVIP

文件编号 文件版本 共54页 V1.10 信号质量测试规范  本规范修改记录： 修订版本 修订日期 修订内容 修改人 A1 2005-5-31 对A0版本进行优化： 统一文档排版风格。修改第一版中部分描述和定义不是很清楚的地方。删除某些不实用的测试方法，简化部分“测试示例”内容。 原4.2节用统一的表格方式表示，增加回勾、振荡、建立保持时间等内容，并补充产生原因、解决建议等内容。合并原“7.1.4 合格标准”和“7.1.3 测试方法”，并增加“测试点”和“注意事项”内容； 增加“4.5 测试点选择”内容，增加“5.3 信号质量测试结果分析注意事项”，增加第8节“测试系统接地说明”、第9节“信号质量测试checklist”。把参考资料放到最后一节； 在第6节每项测试方法中详细定义测试操作方法，以求测试结果一致性； 邓兴昌 A0 2004-7-10 新拟制 起草人 目 录 1 引言 6 2 适用范围 6 3 信号质量测试概述 6 3.1 信号完整性 6 3.2 信号质量 7 4 信号质量测试条件 12 4.1 单板/系统工作条件： 12 4.2 信号质量测试人员要求： 12 4.3 示波器选择与使用要求： 12 4.4 探头选择与使用要求 13 4.5 测试点的选择 14 5 信号质量测试通用标准 14 5.1 信号电平简述： 14 5.2 合格标准 16 5.3 信号质量测试结果分析注意事项 17 6 信号质量测试方法 19 6.1 电源信号质量测试 19 6.1.1 简述 19 6.1.2 测试项目 19 6.1.3 测试方法 19 6.2 时钟信号质量测试 26 6.2.1 简述 26 6.2.2 测试方法 26 6.2.3 测试指标与合格标准 26 6.2.4 注意事项 28 6.3 复位信号质量测试 29 6.3.1 简述 29 6.3.2 测试方法 29 6.3.3 测试项目与合格标准 29 6.3.4 注意事项 31 6.3.5 测试示例 31 6.4 数据、地址信号质量测试 33 6.4.1 简述 33 6.4.2 测试方法 33 6.4.3 测试项目 34 6.4.4 测试示例： 35 6.5 差分信号质量测试 36 6.5.1 简述 36 6.5.2 测试项目 36 6.5.3 测试方法 36 6.5.4 合格标准 38 6.5.5 注意事项 42 6.5.6 测试示例 42 6.6 串行信号质量测试 43 6.6.1 概述 43 6.6.2 测试项目 44 6.6.3 测试方法 45 6.6.4 合格标准 46 7 信号质量测试Checklist 49 8 测试系统接地说明 51 9 引用标准和参考资料 54 信号质量测试规范 关键词：信号完整性 、测试 摘 要：本规范详细说明了单板信号质量测试的方法。其中包括各类信号波形参数的定义，进行信号质量测试的条件，覆盖范围，合格标准，信号分类，各类信号波形参数的指标，测试点的选择以及测试结果分析重点。 缩略语清单： SI Signal Integrity 信号完整性 TTL Transistor-Transistor Logic 晶体管-晶体管逻辑 CMOS Complementary Metal Oxide Semicondutor 互补金属氧化物半导体 LVTTL Low Voltage TTL 低电压ＴＴＬ LVCMOS Low Voltage CMOS 低电压ＣＭＯＳ ECL Emitter Coupled Logic 发射极耦合逻辑 PECL Pseudo/Positive Emitter Coupled Logic 伪发射极耦合逻辑 LVDS Low Voltage Differential Signaling 低电压差分信号 GTL Gunning Transceiver Logic 射电收发逻辑 HSTL High-Speed Transceiver Logic 高速收发器逻辑 eHSTL Enhanced High-Speed Transceiver Logic 增强高速收发器逻辑 dHSTL Differential HSTL 差分HSTL SSTL Stub Series-terminated Logic 线脚系列终端逻辑 SPI Serial Peripheral Interface 串行外围接口 I2C Inter Integrated Circuit Bus 内部集成电路总线 USB Universal Serial Bus 通用串行总线 引言 《信号质量测试规范》是为了规范和指导 硬件调试、硬件测试 以及 生产测试