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製程能力指數Ca或ｋ(準確度；Accuracy)： 表示製程特性中心位置的偏移程度，值等於零，即不偏移。值越大偏移越大，越小偏移越小。製程準確度Ca(Caoability of Accuracy) 標準公式 簡易公式　 T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差?PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值，故不計算Ca?製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca 　 　 (Xbar － μ) 　 (實績平均值 － 規格中心值) Ca(k) ＝ ──────? ＝ ─────────── 　 　 (T ／ 2) 　 (規格公差／2) T＝USL－LSL=規格上限－規格下限＝規格公差PS.製程特性定義　　單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值，故不計算Ca　　製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca當Ca ＝ 0 時，代表量測製程之實績平均值與規格中心相同；無偏移當Ca ＝ ±1 時，代表量測製程之實績平均值與規格上或下限相同；偏移100% 評等參考 ：Ca值愈小，品質愈佳。依Ca值大小可分為四級　 等級 Ca值 處理原則 A 　　0　　≦　|Ca|　≦　12.5% 維持現狀 B 12.5%　≦　|Ca|　≦　25% 改進為A級 C 　25%　≦　|Ca|　≦　50% 立即檢討改善 D 　50%　≦　|Ca|　≦ 100% 採取緊急措施，全面檢討必要時停工生產?? 製程精密度Cp(Caoability of Precision)製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）： 表示製程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。 或： 雙邊能力指數(長期) ： 雙邊績效指數(短期) ： 單邊上限能力指數 ： 單邊下限能力指數 USL： 特性值之規格上限；即產品特性大於USL在工程上將造成不合格LSL： 特性值之規格下限；即產品特性小於LSL在工程上將造成不合格 ： 製程平均數估計值；即製程目前特性值的中心位置： 製程標準差估計值；即製程目前特性值的一致程度 PS.製程特性定義　　單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限 　　沒有規格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk　　沒有規格上限 Cp ＝ CPL ＝ ?Cpk 製程精密度Cp(Caoability of Precision) 量測製程之實績平均值與規格中心的差異性。 　 　 (USL－LSL) 　 (規格上限－規格下限) Cp ＝ ──────? ＝ ─────────── 　 　 6 σ 　 (6個標準差) PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限 　 　 (USL－X) 　 (規格上限－平均值) Cpu?? ＝ ──────? ＝ ─────────── 　 　 3 σ 　 (3個標準差) 　 　 (X －LSL) 　 (平均值－規格下限) Cpl?? ＝ ──────? ＝ ─────────── 　 　 3 σ 　 (3個標準差) 製程精密度Cp(Caoability of Precision)之參考判定 當Cp愈大時，代表工廠製造能力愈強，所製造產品的常態分配越集中。等級判定：依Cp值大小可分為五級 等級 Ca值 處理原則 A+ 2　　≦　Cp????? ???????? 無缺點考慮降低成本 A 1.67　≦　Cp　≦　2??? 維持現狀 B ? 1.33　≦　Cp　≦　1.67 有缺點發生 C ? 1　　 ≦　Cp　≦　1.33 立即檢討改善 D 　　　　Cp　≦　1 採取緊急措施，進行品質改善，並研討規格??????? 綜合製程能力指數Cpk： 同時考慮偏移及一致程度。 Cpk　＝ 　( 1 － k ) ｘ Cp 或 MIN {CPU,CPL} Ppk　＝　( 1 － k ) ｘ Pp 或 MIN {PPU,PPL} 　 (X –μ) 　 ?K　＝　|Ca|　＝ ──────? 　 　 (T/2) 　 PS.製程特性定義單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限 　　沒有規格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk　　沒有規格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk 評等參考當Cpk值愈大，代表製程綜合能力愈好。?等級判定：依Cpk值大小可分為五級 等級 Cpk值 處理原則 A+ 1.67?? ≦? Cpk　??????????? 無缺點考慮降低成本 A 1.33?? ≦? Cpk? ≦? 1.67 維持現狀 B 1????? ≦? Cpk