第4章单晶硅及其杂质和缺陷.ppt

  1. 1、本文档共64页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
第4章单晶硅及其杂质和缺陷

第4章 单晶硅材料 第5章 单晶硅中的杂质和位错 主要内容: 硅的基本性质 高纯多晶硅的制备 高纯单晶硅的制备 单晶硅中的杂质 单晶硅中的位错 什么样的温度控制才能生长单晶?——根据晶体生长理论来进行设计 结晶学把晶体生长过程看作是成核长大过程。这个过程分为两个阶段,成核阶段和生长阶段。 在人工晶体生长系统中,为了在所希望生长的地方生长出单晶,必须严格控制生长系统中的成核率。通常采用设置非均匀相变驱动力场的方法,使生长系统中的相变驱动力有一定的合适的空间分布。所谓驱动力场是指生长系统中驱动力在空间的分布。 晶体-流体界面附近 负相变驱动力, Δg<0 晶体生长 其余部分 正相变驱动力, Δg>0 成核率为零 在直拉法生长的情形,生长驱动力场是与熔体中温度场相对应的,因此可以用改变温度场的方法来获得合理的驱动力场。在直拉法熔体生长系统中,要求熔体的自由表面的中心处,存在负驱动力(熔体具有一定的过冷度),熔体中其余各处的驱动力为正(为过热熔体),且越离液面中心其正驱动力越大,并要求驱动力场(温度场)具有轴对称性。在这样的驱动力场中,用籽晶生长,就能保证生长过程中不会发生不希望有的成核事件。 4.6.2 新型直拉单晶硅的生长技术 1 磁控直拉单晶硅的技术 晶体生长时,可在水平方向,亦可在垂直向加磁场,分别称之为横向磁场和纵向磁场垂直磁场。 目的:为了抑制热对流,减少氧杂质。 原理:由于熔体硅具有导电性,在磁场的作用下,熔体的流动必然引起感生电流,于是产生洛伦兹力,在洛伦兹力的作用下,熔体内的热对流得到抑制,晶体熔体界面处的氧、点缺陷及其它杂质也可得到控制在横向磁场下,轴向的热对流被抑制,径向不受影响, 在轴向磁场下,径向的热对流被抑制,轴向不受影响。 (1)有效降低和控制氧浓度 氧浓度问题是研究磁场法的出发点。由于磁场能有效抑制熔硅的热对流,改变磁场强度又可控制熔硅的热对流,于是控制了熔硅与石英坩埚的反应速率,因而控制了来自石英坩埚中的氧,使得MCZ硅中的氧合量只有CZ硅的十分之一,而且可以控制。 (2)获得无生长条纹的晶体 加磁场使熔硅的粘度增加,阴碍了熔硅的流动,因而大大减弱了机械振动所引起的熔硅液的抖动,热对流的抑制又大大减小了熔硅的温度波动,使液面极为平静,因而可拉制无生长条纹的晶体。 磁场的作用: 2 重装料直拉单晶硅 通常,单晶硅棒形成后,留在炉膛内,随炉冷却到室温,再取出。这时,剩下的石英坩埚中的多晶硅也会凝固,体积增大,导致石英坩埚破裂,最终增加了成本。 采用重装料直拉单晶硅设备,就是在单晶硅棒收尾后,迅速移走,然后在籽晶轴上装上多晶硅棒,让多晶硅棒熔入熔体,增加熔体,然后在装上籽晶,生长单晶硅。此过程为连续生产过程,节省了大量的时间,而且石英坩埚可以重复利用,节约了大量的成本,在太阳能电池单晶硅的生产中得到了广泛的应用。 3 连续加料直拉单晶硅 在直拉单晶硅生长时,源源不断地在熔硅中加入多晶硅,使熔硅液面保持不变,每生长一根单晶硅棒,就移出炉外,这样就可以进行连续生长。 加料技术三种: 固体加料:利用真空传送系统,直接向熔硅中加入颗粒状多晶硅。 液体加料:设备分为生长炉和熔料炉,两者之间有传送管,熔料炉专门熔化多晶硅,利用不同压力控制,输送到生长炉中。 双坩埚液体加料:一个炉体,两个坩埚,一个用于生长,一个用于熔料,两坩埚相连,使得生长坩埚的液面保持不变。 前景很好,但是应用不广泛。 4 太阳能用直拉三晶硅晶体生长 籽晶是由三个晶向都是<110>的单晶共同组成,在三晶硅中存在三个孪晶界,都垂直于(110)面,孪晶界之间的夹角为120度。生长技术与传统的直拉法基本相同。 优点: 晶体生长过程中生长速度较快,缩短时间。 机械强度较普通直拉单晶硅高很多,硅片可以加工的很薄,达到150微米。 4.6.3 直拉单晶硅的掺杂 1 分凝现象和分凝系数 两种或两种以上的元素构成固溶体,熔化后,凝固结晶的过程中,含量少的杂质(浓度小的元素)在晶体和熔体中的浓度不同的现象。 分凝现象(偏析现象): 平衡分凝系数: 固溶体结晶时,如过固相和液相接近平衡状态,即以无限缓慢的速度从熔体中凝固出固体,在固相中这种杂质的浓度为cS,液相中该杂质的浓度为cL,那么两者的比值k0称为该杂质在此晶体中的平衡分凝系数: K01时,意味着晶体生长时,杂质在固体中的浓度始终要小于在熔体中的浓度,杂质在熔体中富集,最终导致单晶硅棒尾部的杂质含量高于晶体的头部。 对于不同的杂质,在硅中的平衡分凝系数K0也是不同的: K01时,意味着晶体生长时,杂质在固体中的浓度始终要大于在熔体中的浓度,杂质在熔体中的浓度越来越小,最终导致单晶硅棒尾部的杂质含量低于晶体的头部。 K0=1时,意味着晶

文档评论(0)

dart003 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档