6.射线的应用-应力分析分析.ppt

2、宏观应力测定的原理 1、单轴应力 宏观：最简单的受力状态是单轴拉伸。有一根横截面积为A的试棒，在轴向Z施加拉力F，它的长度将由受力前的L0变为拉伸后的Ln，所产生的应变εy为： 根据虎克定律，弹性应力σz为：σy＝Eεy, E为弹性模量. 微观： 试样各晶粒中与轴向垂直 的晶面的面间距d也会相应 地变大，可以通过测量d的 变化来测定应变. 从材料力学可知，对各向 同性的物质εx=εz=-νεy, ν－泊松比，负号表示减小  只要测出Z方向上晶面间距的变化Δd，就可算出Y方向上应力的大小。而晶面间距的变化是通过测量衍射线的位移Δθ得到。 由布拉格方程微分得：测定单轴应力基本公式: 为测定单轴应力的基本公式.当试样中存在宏观内应力时，会使衍射线产生位移。提供用X射线衍射方法测定宏观内应力的实验依据，即可以通过测量衍射线位移，来测定宏观内应力。 X射线行射方法测定的实际上是残余应变。而宏观内应力是通过弹性模量由残余应变算出来的。 2.平面应力　　 一般情况下，材料的应力状态通常处于三轴应力状态。不过，在材料的表面却只有两轴应力。因为在垂直于表面的方向上应力值为零。又由于X射线照射的深度很小。所以只需研究双轴应力，即平面应力。 在物体的自由表面上，若任意切割出一单元体。则该单元体受两个垂直方向σ1和σ2的应力作用。这两个应力的数值随所选单元体方位的不同而变化，但二者之和为常数。 工程中人们更关心的是某个方向上的应力，如σφ。这就需要经过两次测量应变才能求得如σφ。即除了测定垂直表面的应变ε3外，还要测σ3和σφ构成的平面内某个方向（如OA方向）的应变εψ。具体如下: 1）首先测量与表面平行的晶面( hkl)的应变，即测定与表面平行的晶面的晶面间距的变化。 d0为无应力状态下(hkl) 晶面的晶面间距。dn为 个晶粒在σ3方向的晶 面间距。 2）测量与表面呈ψ角上相同晶面（hkl）的应变。　 d0为无应力状态下(hkl) 晶面的晶面间距。dψ为 个晶粒在σψ方向的晶 面间距。 3）由ε3、εψ求σφ。对各向同性和弹性体。 由弹性力学原理有： 这是宏观应力测定的基础公式。 3、测试方法 （一）衍射仪法　　 实用上有两种方法，一种是通过测定两个方向上有晶面间距来求应力σφ，这就是0°-45°法。 另一种是测定一系列方向的d来σφ，就是 法。它比上一个方法要准确一些。 1、 上试说明，OA方向的应变εψ由二部分组成。一部分是特定方向上的应力σφ，另一个主应力（σ1+σ2）。当ψ改变时它们是常数，即对σφ的贡献是固定的。 将上式对 求导: 应变是通过直接测量2θ的变化来获得，因此把上式与2θ角联系起来,对布拉格公式进行微分得： 由于θψ≈θ0 ,θ0为无应力时的布拉格角，θψ为有应力时的布拉格角。 在实际计算时，要将式中的2θ角从弧度转换为度，加上一个因数： 式中前面部分在选定了干涉面HKL和波长时，为常数，称为应力常数K1. 上式是一个直线方程，其斜率： 只要求出M，就可通过它求得σφ。M可以让X射线从不同角度ψ入射，并测定多个2θ角，并用2θ与 作图，求直线的斜率，便可获得M。　 以低碳钢为例： 1）测ψ=0时的应变用Cr靶,测211干涉面的2θ角。211干涉面的2θ角为156.4°,θ=78.2°。让入射X射线与样品表面呈78.2°，并让计数管在2θ= 156.4°附近扫描，准确测定它的2θ角，设测得的角度为154.92°. 2）测定ψ=15、30、45°角时的2θ角,计数管不动，让样品转动15、30、45°，分别准确测定其2θ角。 2、0°-45°法　　 结果比较精确，但测量次数多，比较费时，如果材料晶粒较细，织构和显微应力不严重，2θφ- 的线性关系较好。直线的斜率可由首尾两点决定。即只测0°和45°两个方向的应变。称0°-45°法。 3、仪器的改装(特别提醒) 1）要安装一个能独立转动的样品架普通衍射仪的样品台与计数器是以1：2的比例连动的。但在测定宏观应力时，要安装一个能独立转动的样品架，使试样表面转到所需的ψ角度，以便测定在不同ψ角下的2θψ。 2）要使计数管能够沿着测角仪圆的半径方向移动。以达到聚焦目的。 在实际中，这不易做到。现在一般采用侧倾法，计数管不动，让试样表面绕测角仪水平轴（而不是垂直轴）倾斜不同的ψ角，来实现应力测定。这要求有一个能绕测角仪水平轴转动的特制试样架。 （二）应力仪法　　 X射线应力仪一般为立式，试样是固定的，计数管在垂直的平面内扫描，测定2θ角。其中应变晶面方向与试样法线方向的夹角ψ由下式求得： 每次改变入射线角度就可测 得不同ψ时的2θψ。同样 它也有