特種设备平板焊缝超声检测实践考试.docVIP

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特種设备平板焊缝超声检测实践考试

平板对接焊缝操作方法 1 检验前的准备 依据检验工艺卡准备超声波探伤仪、电缆、探头、标准试块、操作试件、耦合剂以及记录纸、记录表、记录及测量器具等。 了解操作工件的材料,测量被检工件的规格(长×宽×高);了解工件的焊接方法(单面焊或双面焊、手工焊或自动焊);绘制工件示意图并表明必要的尺寸,平板对接焊缝示意图如图1。 图1 平板对接焊缝示意图 选择检验探头,检验探头的频率一般为2MHz~5MHz,探头的角度选择见表7.4-1,一般在条件允许时,应尽量采用较大角度的探头。 表1 推荐采用的斜探头K值 板厚 T mm K 值 8-25 3.0-2.0(72°-63°) >25-46 2.5-1.5(68°-56°) >46-120 2.0-1.0(63°-45°) >120-400 2.0-1.0(63°-45°) 填写仪器型号、探头型式、试块的型号编号等。2 斜探头入射点和角度(K值)测量 测试方法:将探头放在CSK-IA试块上,如图2所示,移动探头使R100圆弧回波幅度达到最高,此时探头底面与试块圆心的重合点就是探头的入射点。则探头的前沿长度为: L0 = R-M斜探头的角度通常在CSK-IA试块上利用?50有机玻璃圆弧面和?1.5横孔来测定,如图2所示。当探头位于位置B时,可测定的角度范围为35o-60o,探头位于位置C时,可测定的角度范围为60o-75o,当探头位于位置D时,可测定的角度范围为75o-80o。 图2 入射点与K值测定 3 超声波仪器时基线调节 扫描线调节方法 扫描线调节方法通常根据被检工件的厚度确定: 试件厚度小于20mm,通常采用水平1:1法调节扫描线,此时深度范围旋钮放在50mm处; 试件厚度大于等于20mm时,通常采用深度1:1法调节扫描线,此时深度范围旋钮放在250mm处。 扫描线水平1:1调节方法 ⑴ 采用CSK-IA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处,使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。将探头对准CSK-IA试块上R50和R100圆弧,见图3所示,使两圆弧回波同时达最高;配合调节深度微调和脉冲移位旋钮,使得R50和R100圆弧的反射波分别对应扫描刻度线L50、L100对应的值。 图3 CSK-IA试块扫描线水平调节方法 ⑵ 采用CSK-IIIA试块进行扫描线的调节方法 图4 CSK-IIIA试块扫描线水平调节方法 扫描线深度1:1调节方法 采用CSK-IA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处,使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。将探头对准CSK-IA试块上R50和R100圆弧,见图5所示,使两圆弧回波同时达最高;配合调节深度微调和脉冲移位旋钮,使得R50和R100圆弧的反射波分别对应扫描刻度线D50、D100对应的值。 图5 CSK-IA试块扫描线深度调节方法 b) 采用CSK-IIIA试块进行扫描线的调节方法 将仪器深度范围旋钮放在50mm处,使用脉冲移位旋钮将始波放在视波屏“0”格处。将探头对准CSK-IIIA试块上两个不同深度的横孔(如20mm和80mm)。两个横孔的选择通常需要覆盖所需要的检验范围。反复调节脉冲移位以及深度细调旋钮,使两个横孔分别对准指定位置(如仪器示波屏水平刻度20和80),调好即为扫描线深度1:1。4 DAC曲线的绘制 图6 距离――波幅曲线示意图 距离――波幅曲线由评定线(EL)、定量线(SL)和判废线(RL)组成,如图6所示。评定线和定量线之间的区域(包括评定线)称为I区,定量线与判废线之间的区域(包括定量线)称为II区,判废线及其以上区域称为III区。采用CSK-IIIA试块时,不同板厚范围的距离——波幅曲线的灵敏度见表2。 表2距离—波幅曲线的灵敏度试块 板厚(mm) 评定线 定量线 判废线 CSK-IIIA 8~15 Φ1×6-12dB Φ1×6-6dB Φ1×6+2dB 15~46 Φ1×6-9dB Φ1×6-3dB Φ1×6+5dB 46~120 Φ1×6-6dB Φ1×6 Φ1×6+10dB 将距离——波幅曲线绘制在超声仪器的示波屏面板上,则称为面板曲线。实际检验过程中,使用距离——波幅曲线比较麻烦,而面板曲线使用比较方便,可根据缺陷波高直接确定缺陷的当量和区域。 以下板厚为30mm的平板对接焊缝为例说明面板缺陷绘制过程。 测定探头的入射点和角度,根据板厚按深度调节好仪器时基线。 CSK-IIIA试块上深度为探头对准深度为10mm的Φ1×6横孔,前后左右移动探头并找到横孔最高回波,调至满屏高度的80%,在面板上标记波峰对应的点。 固定仪器灵敏度旋钮,分别探测深度为20、30、40、50、60mm的Φ1×6横孔,并调节探头找到以上横孔的最高回波,在

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