光学与光电系统成像性能评测幻灯片.pptVIP

§3.1 光电系统成像性能评测基本理论 §3.2 分辨率测量 §3.3 光学传递函数测量 §3.4 畸变测量 §3.2 光电成像系统像质评价技术 §3.2.2 光学传递函数测量 １、扫描法 　　扫描法的实质是利用亚像元级精确机械扫描来实现超分辨率，减少频谱混叠现象对测量结果的影响。刀口或狭缝扫描法被广泛应用在测量离散采样器件的调制传递函数。 　　根据奈奎斯特(Nyquist)定理，如果图像欠采样则会出现混频效应。所谓混频，就是由于模拟信号在空间域中被离散采样，在频率域中其各个周期性频谱之间可能出现重叠现象。当采样频率小于奎斯特频率时，将出现混频现象，此时的采样状态称为欠采样状态。 ２、光栅调制度法 　　离散采样器件的调制传递函数也可用光栅调制度法测量，通常采用正弦光或矩形光栅。该类方法的实质是将光栅以某种方式成像到离散采样器件，通过数字图像分析技术和相应的数学算法计算出基频分量的调制度衰减量。测试过程中必须注意测试条纹图像与采样元之间的对准位置关系，多次对准和测试以便能遍历多种采样场景相位。这种方法实际上测量得到的是包含成像光学系统在内的系统调制传递函数。图3-24是某种矩形条纹测试图。 图 3-24 矩形光栅测试图 ３、激光散斑法 　　激光散斑法是利用激光散斑的随机性测量CCD等离散采样成像器件的一种新方法，激光散斑法不需要扫描机构和精确对准机构，操作简单方便。 　　激光散斑是一种干涉现象。当相干辐射光从粗糙表面漫反射，或穿过随机透射屏时，在反射光场或透射光场的任意位置上存在着大量具有不同相位的相干子波，这些子波相互干涉，便出现颗粒状散斑干涉场。激光散斑法测量不需要成像光学系统，可以直接将激光辐射到CCD靶面上。测量的关键是计算CCD接收到的图像的功率谱分布。 §3.3 畸变测量 §3.3.1 畸变定义 畸变是主光线的像差。球差的存在导致不同视场的主光线通过光学系统后与高斯像面的交点高度 不等于理想像高 ，其差别就是系统的畸变，用 表示： 在光学设计中，通常用相对畸变 来表示畸变的大小： 其中， 为理想放大率； 为某一视场的实际放大率。 畸变仅是视场的函数，不同视场的实际垂轴放大率不同，畸变也不同。 图 3-10 三种判据的部分合光强分布曲线图 斯派罗(SPARROW) 图 3-11 瑞利、道斯和斯派罗判据的三维合成辐照度分布图 ★望远物镜： ★照相物镜： ★显微物镜： （3-13） （3-14） （3-15） 表3-1三类光学系统的理论分辨率 以上讨论的各类光学系统的分辨率公式只适用于视场中心的情况。对望远系统和显微系统而言，由于视场很小，因此只需考虑视场中心的分辨率。但对照相系统而言，由于视场通常较大，除考察视场中心的分辨率外还应考察中心视场以外的分辨率。 图3-12 轴外点理论分辨率与轴上点理论分辨率的关系 在斜光束成像情况下，理论分辨率的计算公式将与轴上分辨率公式有所不同。如图3-12所示，为斜光束成像时物镜出瞳处的子午波面，它在OC’方向上成一理想像点C’。M’为过C’点垂直于主光线OC’的线段上的一点，而且C’M’就等于斜光束成像情况下中央亮斑的半径，即： (3-16) 照相物镜轴外点子午和弧矢方向的理论分辨率为： (3-17) (3-18) 可看出，理论分辨率随视场增大而下降，而且子午方向的分辨率比弧矢方向的分辨率下降得更快。 2）分辨率测量方法 ★分辨率图案 　　 直接用人工方法获取两个相互非常靠近的非相干点光源作为检验光学系统分辨率的目标物是比较困难的，实际中常采用由不同粗细的黑白条纹组成的人工特制图案作为目标物来检验光学系统的分辨率。由于各类光学系统的用途不同、工作条件不同、要求不同，所以设计制作的分辨率图案在形式上也很不一样。图3-13为两种较为典型的常用分辨率图案。下面以ZBN35003-89国家专业标准分辨率图案为例，介绍其设计计算方法。该分辨率图案中的单元线条设计如图3-14所示。 图3-13 两种分辨率图案左：国家专业标准分辨率图案 右：辐射式分