IC工艺new.pptVIP

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
IC工艺new

溅射装备系统的最新构成是多腔集成设备: 真空锁,将单个硅片从硅片架里移动到系统的真空背景下。由双真空锁构成,可将硅片从大气环境分级地移动到系统的真空腔中。 自动传输系统,从各种处理腔和寄存腔中移动硅片。它通过磁耦合实现,以使自动传输装置的驱动电机安装在工艺腔外以减少颗粒。 * *    每一种淀积系统的变化都是在薄膜特性和质量控制上的改进。 Barrier Metals SiH4 Ar N2 N2 Ti PVD Targets * Physical Vapor Deposition Chambers Cluster Tool Configuration Transfer Chamber Loadlock Wafers PVD Chamber Transfer Chamber Cryo Pump Wafer N S N + e - Backside He Cooling Argon Nitrogen Reactive Gases DC Power Supply (+) * High proportion of the total product use Process Conditions Pressure: 5 mTorr Temperature: 200 degrees C. RF Power: * * * * PVD Target PVD Chamber CVD Chamber * * 人有了知识,就会具备各种分析能力, 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书,广泛阅读, 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍,我们能丰富知识, 培养逻辑思维能力; 通过阅读文学作品,我们能提高文学鉴赏水平, 培养文学情趣; 通过阅读报刊,我们能增长见识,扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操, 给我们巨大的精神力量, 鼓舞我们前进。 物体由于外因(受力、湿度变化等)而变形时,在物体内各部分之间产生相互作用的内力,以抵抗这种外因的作用,并力图使物体从变形后的位置回复到变形前的位置。在所考察的截面某一点单位面积上的内力称为应力 * 1)在高真空腔等离子体中产生正氩离子,并向具有负电势的靶材料加速; 2)在加速过程中获得动量,并轰击靶; 3)离子通过物理过程从靶上撞击出(溅射)原子,靶具有想要的材料组分; 4)被撞击出(溅射)的原子迁移到硅片表面; 5)被溅射的原子在硅片表面凝聚形成薄膜,与靶材料相比,薄膜具有与它基本相同的材料组分; 6)额外材料由真空泵抽走。 * * * 25 Praxair Semiconductor Manufacturing Technology, Module 3: Semiconductor Manufacturing Processes Physical Vapor Deposition (PVD) PVD Metals Both non-reactive argon sputtering and reactive nitrogen sputtering are employed in depositing a variety of metals, including titanium, titanium nitride, and aluminum copper alloys. These processes are performed at low operating pressure (less than 5 mTorr) to maximize film density and deposition rate: More scattering at higher pressures slows the deposition rate and leads to glancing angles for deposition, leading to a less dense film. Because of the reactivity of some of these materials, multi-chamber tools called “cluster tools” have been developed which allow multiple sequential operations automatically without exposing the wafer to air. These cluster configurations also provide leverage in manufacturing efficiency.

文档评论(0)

little28 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档