第二节X射线的物理学基础.pptVIP

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  • 2017-02-16 发布于上海
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* 四、X射线与物质的相互作用 (2) X射线的吸收 X射线的吸收是指X射线通过物质时,将原子内层电子击出,X射线能量转变为其他形式的能量,即发生了能量损耗。 X射线的吸收主要包括: 光电效应与荧光(二次特征)X射线 俄歇效应 * 四、X射线与物质的相互作用 (2.1) 光电效应与荧光(二次特征)X射线 光电效应——当用X射线轰击物质时 ,若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时,入射X射线光子的能量就会被吸收,从而导致其内层电子(如K层电子)被击出,产生光电效应。 图 光电效应 * 四、X射线与物质的相互作用 (2.1) 光电效应与荧光(二次特征)X射线 荧光辐射——失去内层电子的原子处于激发态,将发生外层电子向内层跃迁同时释放波长一定的特征X射线。称为二次荧光辐射或荧光辐射。 图 荧光辐射 * 四、X射线与物质的相互作用 (2.1) 光电效应与荧光(二次特征)X射线 激发限 产生的二次特征X射线的波长与激发它们所需的能量取决于物质的原子种类和结构。 要使K、L、M等层电子产生光电效应,入射X射线的能量必须大于等于原子中K、L、M等层电子的逸出功WK,即   ?K:从激发光电效应的角度说,称为激发限波长,意义是只有入射的X射线波长达到或小于它时,才能激发物质的二次特征X射线。   * 四、X射线与物质的相互作用 (2.1) 光电效应与荧光(二次特征)X射线 吸收限 一旦产生光电效应,入射的X射线光子被大量地吸收,所以,λK、λL、λM等也称作被照物质因产生荧光辐射而大量吸收入射X射线的K、L、M吸收限。 利用吸收限可以计算靶材的临界激发电压,例如: 式中,UK为K临界激发电压(KV);λK为阳极靶材物质的K吸收限波长(nm) ?K:从X射线被吸收的角度看,称为吸收限波长。意义是当入射的X射线的波长达到它时,入射X射线将被该物质强烈吸收,并产生光电效应。 * 四、X射线与物质的相互作用 (2.1) 光电效应与荧光(二次特征)X射线 荧光辐射的利与弊: 在X射线衍射分析中,荧光辐射是有害的,它会增加衍射谱的背底,使衍射花样变得复杂。 在元素分析方面,荧光辐射又可作为X射线荧光光谱分析的基础。 * 四、X射线与物质的相互作用 (2.2) 俄歇效应 定义:当高能级的电子向低能级跃迁时,能量不是产生二次X射线,而是被周围某个壳层上的电子所吸收,并促使该电子受激发逸出原子成为二次电子。这种效应是俄歇1925年发现的,称俄歇效应,产生的二次电子称俄歇电子。 图 光电子、荧光X射线和俄歇电子三种过程示意图 * 四、X射线与物质的相互作用 (2.2) 俄歇效应 俄歇电子的命名 原子K层电子被击出,外层电子如L层的L2电子向K层跃迁,其能量差 可能不是以产生一个K系X射线的形式释放,而是被邻近的电子(比如另一个L2电子)所吸收,使这个电子受激发而逸出原子成为俄歇电子;常用参与俄歇过程的三个能级来命名:KL2L2俄歇电子。 俄歇电子的能量 与参与俄歇过程的三个能级能量有关: 俄歇电子具有特定的能量值,仅与物质元素种类有关。利用该原理制造的俄歇能谱仪主要用于材料表面的成份分析。 * 四、X射线与物质的相互作用 (3) X射线的衰减规律与吸收系数 X射线通过物质时,X射线强度会衰减。其中,因散射引起的衰减远远小于因吸收导致的衰减量。因此,可以近似地认为,X射线通过物质后其强度的衰减是由于物质对它的吸收所造成的。 * 四、X射线与物质的相互作用 (3) X射线的衰减规律与吸收系数 实验证明,一单色X射线透过一层均匀物质时,其强度将随穿透深度的增加呈指数规律减弱,即 ——透射束强度 ——入射束强度 ——线吸收系数 ——物质厚度 线吸收系数μl(cm-1)表示沿穿透方向单位长度X射线的衰减程度,与X射线的波长、吸收物质、吸收物质物理状态等有关。 I/I0为穿透系数或透射因数。 * 四、X射线与物质的相互作用 (3) X射线的衰减规律与吸收系数 为避开吸收系数随吸收物体物理状态不同而改变的问题,令 ——质量吸收系数 质量吸收系数μm(cm2·g-1)表示单位质量物质对X射线的吸收程度,只与X射线的波长和吸收物质有关。 对一定波长的X射线和一定的物质来说,μm为一定值,不随吸收体物理状态的改变而变化。 * 四、X射线与物质的相互作用 (3) X射线的衰减规律与吸收系数 一般来说,当吸收物质一定时,X射线的波长越短越容易被吸收,当波长一定时,吸收体的原子序数Z越大,X射线被吸收得越多。 质量吸收系数与物质的原子序数Z和入射X射线的波长?有如下实验函

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