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- 2017-02-22 发布于浙江
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二组分合金相图
姓名:杜兴逸 学号:2011011876 同组姓名:廖书迪,韩屹
实验日期:2012 年9 月21 日 提交报告日期:2012 年9 月28 日
带实验老师:车海龙
1 引言
实验目的
1.用热分析法测绘Bi-Sn 二组分合金相图。
2.掌握热电偶测量温度的基本原理和校正方法。
实验原理
1.热分析法测绘二组分合金相图
加热使合金熔融,在冷却过程中记录温度随时间变化的曲线,即为合金的步冷曲线。相
变发生时,由于相变放热以及热容突变,在步冷曲线上会出现拐点或平台。由此就可由步冷
曲线得到一定组分合金的固体析出温度和低共熔点温度。通过测不同组成的二组分合金的步
冷曲线,就可以做出二组分合金的T-x 相图。
2.热电偶测温原理
由两种不同成分的金属(或半导体)导线组成闭合回路,若两个接点温度不同,则会在
回路中产生一个电动势,称为热电动势。其大小与两端的温度差有关。若保持一端(冷端)
温度恒定,则热电动势的大小只与另一端(热端)的温度有关。据此,可以通过测量热电动
势得到热端的温度。
2 实验操作
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