第二章射线检测2.ppt

射线检测的基本原理和方法 二、射线检测的方法 一、照相法 二、电离检测法 三、荧光屏直接观察法 四、电视观察法 照相法灵敏度高、直观可靠、重复性好 第三节 x射线照相检测技术 射线照相法探伤 射线照相法探伤实质是根据工件与内部缺陷介质对射线能量衰减程度的不同，而引起透过后射线强度分布差异，在感光材料（胶片）上获得缺陷投影所产生的潜影，经过暗室处理后获得的缺陷影象，再对照有关标准评定工件内部质量。 探伤系统组成 1、射线源 2、射线胶片 3、增感屏 4、象质计 5、铅罩、铅光阑 6、铅遮板 7、底部铅板 8、滤板 9、暗盒 10、标记带 1、射线源 X射线机、γ射线机或加速器。 2、射线胶片 射线胶片各部分作用 保护层的主要成分为明胶，可保护乳剂层不受损伤。 乳剂层主要成分为明胶、溴化银和微量碘化银，明胶具有增感作用和使卤化银颗粒均匀悬浮、固定其中。溴化银在射线作用下将产生光化反应。碘化银可提高反差和改善感光性能。 结合层主要成分为树脂，使乳剂层牢固粘附在片基上。 片基的主要成分是涤纶或三醋酸纤维。 增感屏 金属增感屏由金属箔粘合在纸基或胶片基上制成。探伤时与射线胶片紧密接触，布置在先于胶片接受射线照射者称为前屏，后于胶片接受者称为后屏。 象质计 用来定量评价底片影响质量的工具，与被检工件材质应相同。 有：线型、孔型和槽型。 铅罩、铅光阑 附加在x射线机窗口的铅罩或铅光阑，可以限制射线区域大小和得到合适的照射量，从而减少来自其它物体如地面、墙壁和工件非受检区的散射作用，以避免和减少散射线所导致底片灰雾度的增加。 铅遮板 工件表面和周围的铅遮板，可以有效地屏蔽前方散射线和工件外缘由散射引起的“边蚀”效应，对不规则的工件可以采用钡泥、金属粉末（铜粉、钢粉和铅粉等）。 底部铅板 屏蔽后方散射线所用。 滤板 吸收X射线中那些波长较大的谱线，这些谱线对底片上影象形成作用不大，却往往引起散射线。 暗盒 由对X射线吸收不明显，对影像无影响的柔软塑料带制成，能很好的弯曲和贴近工件。 标记带 作用：使每张射线底片与工件被检部位能始终对照。 探伤条件的选择 选择原则 （1）象质等级 对给定工件进行射线探伤时，应根据有关规程和标准要求选择适当的探伤条件。 例如：透照钢熔焊对接接头应以GB3323－87为依据。 A级－－成像质量一般，适用于承受负载较小的产品及部件。 AB级－－成像质量较高，适用于锅炉和压力容器的产品及部件。 B级－－成像质量最高，适用于航天和核设备等极为重要的产品及部件。 钢熔化焊对接接头射线照相和质量分级 GB 3323- 87 3 射线照相质分级 按所需要达到的底片影象质量，射线照相方法分为A级(普通级),AB级(较高级)和B级(高级)。选用B级时.焊缝余高应磨平。 （2）黑度 底片黑度是指曝光并经暗室处理后的底片黑化程度,其大小与该部分含银量的多少有关,含银量多的部位比少的部位难于透光,即它的黑度较大. 黑度的数学表示: D-底片黑度 L0-照射光强 L-透过光强 灵敏度 绝对灵敏度：在射线底片上能发现被检试件终于射线平行方向的最小缺陷尺寸 相对灵敏度：在射线底片上能发现被检试件终于射线平行方向的最小缺陷尺寸占缺陷处时间厚度的百分数 测量灵敏度的方法 由于无法了解沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸,为此必须采用已知尺寸的人工“缺陷”—象质计（透度计）来度量. 目的:(1)获得灵敏度的概念. (2)可以对影像质量作出评价. 射线源的选择 (1)射线能量 原则:满足透照工件厚度条件,应根据材质和成像质量要求,尽量选择较低的射线能量. 原因:射线能量越大,其穿透能力越强,但同时也带来由于线质硬而导致成像质量下降. (2)射线强度 当管电压相同时,管电流越大,X射线源的射线强度越大,则曝光时间越短,能显著提高探伤生产率. (3)焦点尺寸 由于焦点越小,照相灵敏度越高.因此,在可能条件下应选择焦点小的射线源,同时还需要按焦点尺寸核算最短透照距离. (4)辐射角:射线束所构成的角度叫辐射角. 几何参数的选择 （1）焦点大小的影响 由于焦点不是点源,而有一定的几何尺寸,在探伤中会产生几何不清晰度 又叫半影. 几何参数的选择 （2）透照距离及焦距 焦点至胶片的距离。 从图中可以看到，F2F1时，ug1 ug2 几何参数的选择 (3)缺陷至胶片距离 诺模图 三、曝光条件的选择 在一定的探伤器材、几何条件和暗室处理等条件下，欲获得规定黑度值的底片，对某一厚度工件应选用的透照参数叫曝光条件。 X射线探伤时：管电压、管电流、焦距、曝光时间。 γ射线探伤时：焦距、曝光时间 射线探伤利用曝光曲线 四、散射线控制 散射线的产生: 射线入射到物体后,由于射线量子与物质发生相互作用,一部分被吸收,一部分穿透物质. 投射射线中包括: 1、一次射线