材料研究与测试法方重点.docxVIP

第 一 页填空题当X射线管的管电压超过临界电压会产生 连续 X射线和 标识 X射线。X射线衍射方法有 劳厄法、 转晶法、 粉末法。电子能谱分析法是基于电磁辐射或运动实物粒子照射或轰击材料产生的电子能谱进行材料分析的方法，最常用的主要有俄歇电子能谱、 X 射线光电子能谱 和紫外光电子能谱三种。影响差热曲线的因素有升温速度 、粒度和颗粒形状、装填密度和压力和气氛 X射线测定应力常用的方法有 Sin2Ψ法和0o-45o法。产生衍射的必要条件是 2dsinθ=nλ ，充分条件是 IFI2≠0 。 结构振幅用 ∣FHKL∣ 表示，结构因数用 ∣FHKL∣2 表示，结构因数=0时没有衍射我们称系统消光，它包括点阵消光和结构消光。在GPC测试过程中，如果流动相的流速小于设定值会使测量结果偏 小 。 培养细胞的生长方式一般有 贴附型生长、 悬浮型生长 两种。凝胶渗透色谱仪一般由进样系统、分离系统、检测系统、数据处理系统四个部分组成。体外培养一般可分为：细胞培养、组织培养、器官培养。第一共振线是发射光谱的最灵敏线，它是由 第一激发态 跃迁至 ___基态_ _ 时产生的辐射。第一共振线是发射光谱的最灵敏线，它是由 第一激发态 跃迁至 基态 时产生的辐射。富燃焰适用于一些在火焰中易形成 难原子化氧化物 的元素的原子吸收测定在原子吸收光谱法中，要使吸光度与原子蒸气中待测元素的基态原子数之间的关系遵循朗伯-比耳定律，必须使发射线宽度小于吸收线宽度。 扫描电子显微镜主要利用电子与物质相作用，产生的 二次电子和背散射电子信号进行检测。透射电镜的块状材料制样是通过减薄的方法，减薄的方法主要有超薄切片 、 电解抛光 、化学抛光 和 离子轰击 。表面分析方法有 俄歇电子能谱 、 紫外电子能谱 、光电子能谱 和 离子探针显微分析 四种方法 透射电子显微镜是利用电子与物质相作用后的 透射电子信号进行检测。名词解释最后线：是指当样品中某元素的含量逐渐减少时，最后仍能观察到的几条谱线。它也是该元素的最灵敏线。吸收限： 把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。系统消光：因IFI2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。电子显微镜：一般是指利用电磁场偏折电子束、聚焦电子束及电子与物质作用原理来研究物质构造及微细结构的精密仪器。光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子（或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子）。短波限：X 射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。荧光X射线：因为光电吸收后，原子处于高能激发态，内层出现了空位，外层电子往此跃迁，就会产生标识X射线这种由X射线激发出的X射线称为荧光X射线。 俄歇电子：X 射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子（实际 是离子）处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过 程发射的电子。差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。二次电子：入射电子与样品相互作用后，使样品原子较外层电子（价带或导带电子）电离产生的电子，称二次电子。三、 简答题X 射线产生的基本条件答：①产生自由电子；②使电子做定向高速运动；③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。简要叙述扫描隧道显微镜与原子力显微镜的原理不同之处答：扫描隧道显微镜利用尖锐金属探针在样品表面扫描，针尖与样品间的纳米间隙的量子隧道效应引起隧道电流与间隙大小呈指数关系，而获得原子级样品表面形貌特征图像，只能用于观察导体和半导体材料的表面结构，不能实现对绝缘体表面形貌的观察。原子力显微镜利用尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子隧穿效应，而是检测原子之间的接触，如，原子键合，范德华力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。 X 射线相干散射与非相干散射现象答： 相干散射：当X 射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。非相干散射：当X 射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。热重法的基本原理是什么？给出其在两个方面的应用。答：(1)，基本原理：程序升高温度，物质失去重量，记录质量与温度之间的关系，从而得到物质的分解、挥发温度与过程。 应用：(1)研究试样的热分解/反应过程。如测结晶水等(2)研究材料的热稳定性。特征X射线产生的物理机制答：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低