TEM使用规则与管理-成功大学.doc

經濟部中小企業處南科育成中心 穿透式電子顯微鏡（TEM）使用規範 儀器設備名稱： 中文：穿透式電子顯微鏡 英文：Transmission Electron Microscope （TEM） 廠牌型號規格： 日本JEOL-2010 功能： 明暗視野成像（bright field and dark field），最高放大倍率一百五十萬倍。 點解析度：可以達到0.23奈米(Point resolution) 高倍率觀察原子晶格：可達0.14奈米(Lattice resolution) 電子束匯聚能力：可達1.0奈米(spot size) 一般材料的各晶向分佈分析之擇區繞射、聚焦束繞射及奈米電子束繞射更是本機型的基本配備(SA diffraction, CBED, nano-diffraction) 一般放大成像及觀察試片形貌外，在操作上明、暗場像及繞射圖譜相互之切換時，影像方位不變。 根據材料表面的明、暗場像分析更可以瞭解材料結構及缺陷，例如結晶相分布、晶粒分布、多層鍍膜厚度、缺陷型態、缺陷位置、缺陷定量等；另一方面，繞射圖譜則可以判定材料晶相分佈，例如單晶、多晶及非晶質，而且在解析度內也可做高解析原子影像(High-resolution imaging)。 收斂束繞射圖譜可以用來量測材料結構對稱性及準確之晶格常數，藉此評估奈米材料局部區域孕含應力的大小。 電子束可以縮小到約數個奈米，因此，也可對材料作奈米區域繞射鑑定奈米材料之微結構。 服務項目： 一般生物組織材料結構。 （※ 本中心目前暫不接受委託製作TEM試片及檢測後之照片沖洗。） 預約委託： TEM之檢測一律採預約委託操作方式辦理。 A. 預約辦法 週一至週五 8：30~17：30接受預約委託操作。預約委託請.tw/下載「使用申請表」，填寫後送達經濟部中小企業處南科育成中心（以下簡稱本中心），經本中心確認並排定時間後隨即通知委託之單位或廠商聯絡人。 本中心於收到使用申請表後，隨即以傳真或E-mail方式通知委託操作之單位或廠商，以確認預約完成。同時本中心將依序排定檢測之日期，並於排定後通知委託之單位或廠商。 委託單位或廠商接到通知之後，務必於排定日期2之前將TEM試片送達本中心收件窗口（須註明為TEM檢測樣品及寄件人名稱、聯絡方式）。 B. 收費標準 開機操作費用以3小時為一單位收費NT$ 4,800元；不滿3小時，以3小時計；超過3小時則以每小時為單位加收1600元。 底片費用另計，每張底片收費50元。 其它特殊服務視情況收費。 C. 繳費方式 繳交費用分為儀器設備使用費、底片費用及操作人員費用三部份，本中心分別開立中小企業發展基金管理委員會收款收據（儀器設備使用費、底片費用）及個人一般收據或領據（操作人員費用）。 試片準備須知 試片之製作請委託單位自理，本中心目前暫不代工試片製作。試片大小：直徑3mm，並已薄化穿孔。本儀器拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性等之試片；在電子束照射下會分解或釋放氣體之樣品，亦不受理。試片禁止使用粉末、混凝土、揮發性、油脂性，有破壞真空之試片，所有試片必須確保乾燥。若因試片準備不當造成真空系統污染，則永久取消該單位申請使用資格且另議維修賠償事宜。若試片需黏著在銅環上，請使用G1膠，一律 試片時請確定已妥善包裝，經本中心拆封後發現其損毀而無法時，除通知委託單位重新寄送試片外並不其他保管責任。  D. 使用申請表 經濟部中小企業處南科育成中心 穿透式電子顯微鏡（ＴＥＭ）使用申請表 （※ 本欄由委託單位填寫） 申請者：　　　　　　 　　　　 　 　申請日期：　　年　　月　　日 服務單位（收據抬頭）：　　　 　　 　 　 統一編號： 電話： 　　通訊地址：　　　　　 　　：　　　　　　　　　 行動電話： 　　試片狀況：(請詳述) 試片處理： 超薄切片（尚未開放） 　　　　　倍數：　 　 　 拍攝位置：　 　 　 其他 ：　 　 　（※