北师大GIC4117串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展.pdfVIP

2006全国荷电粒子源粒子柬学术会议文集 11 北师大GIC47串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展木 王广甫D鲁永芳2’朱光华∞ (北京师范大学分析测试中心，2)北京师范大学低能核物理研究所，北京，100875) 摘要。气溶胶样品中Z12元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北师大GIC4117串列 加速器的主要应用领域之一。为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元 素之不足，我们通过在PIXE靶室40。和160。散射角安装金硅面垒探测器， 用质子前角弹性散射分析(PESA)和非卢瑟福背散射(PNBS)方法对核孔膜 采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行了测量。 关键词。质子，质子弹性散射分析，非卢瑟福背散射，气溶胶，轻元素含量． 一、引言 管道主要应用于大气气溶胶样品的分析Ⅲ。PIXE分析具有灵敏度高、分析速度快、多元素同时分 析能力强和采集在滤膜上的大气颗粒物样品不需要进行化学处理可以直接进行分析等优点。但 是，由于x射线通过靶室和Si(Li)半导体探测器真空密封窗时所产生的衰减，使得PIXE无法对 轻元素(Z≤12)进行分析。而气溶胶中的H、C、N和0等轻元素是气溶胶的主要组成部分，也是 气溶胶来源指纹分析中的重要元素瞌1。因此，通常在PIXE之外，还需要用其他方法对气溶胶中的 轻元素进行分析。 elastic 自1987年Cahill圆等人首次将前角质子弹性散射分析(protonscatteringanalysis--PESA) 用于不含H的Teflon膜上的气溶胶样品H含量的测量后，PESA方法就逐渐成为气溶胶样品中H 含量的常规测量方法m。质子弹性背散射分析也叫做质子非卢瑟福背散射陋埘(proton non-Rutherford backscattering 分辨率很好。当质子能量提高到2’3MeV时，这些轻元素和C和0等元素的散射截面得到增强u¨， 薄膜上采集的气溶胶样品中的C、N和0元素含量进行定量分析。 速器的PI)【E靶室40。和160。散射角安装了金硅面垒探测器，用质子前角弹性散射分析(PESA)和非 卢瑟福背散射(PNBS)方法对以核孔膜为衬底的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行 了测量，并对结果进行了讨论。 二、实验装置及分析方法 直径均为41m，距离样品67mm，分别放置在40。和160。度散射角。 对质子弹性散射，靶原子分别为H、He、C、0和A1时，质子弹性散射的运动学因子Ⅳ随散 射角稍变化如图2所示。 对于PESA，伙90。。由图2明显看到：对于C以上的重元素，不同彤的PESA运动学因子Ⅳ相 差较小，质子前角散射能量相差较小，在多道上不同元素的峰很难分开。所以，PESA方法对C 以上重元素质量分辨率很差，不能对这些元素进行分析。但当样品中含H时，从图2看到H和其 它元素的Ⅳ相差较大，所以在PESA谱上很容易将H同其他元素分开。因此，PESA特别适用于样 品中的H元素含量分析。 ‘国家自然科学基金资助项目，项目编 2006全国荷电粒子源粒子束学术会议文集 图l增加PESA和PNBS分析功能后的PIXE分析靶室 另外，图2表明：确g接近90度，H和其它元素的Ⅳ相差越大，越容易将H同其他元素分开。 但铺墓接近90度，散射质子在样品中运动的轨迹越长，质子能量损失和能量歧离越大，H峰越宽， 不利于定量分析叩1。本工作中，选妫常用的40度，通过和作为标准样品的已知厚度mylar膜的 比较来测量待测样品中的H含量。 对于PNBS。莎90。。从图2看出：此时质量分辨率好于PESA，C和O已可以分开。当质子能 量为2．5MeV时，C、N和0等元素的散射截面得到增强，散射截面的增强，可以提高这些元素的 分析灵敏度。PNBS能谱用 l SIMNRA软件进行拟和Ⅱ引，考虑