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GOM光学测量 专题交流会 叶片制造 流程链 2012年9月20日 宝力机械有限公司 西安綠地筆克展覽中心 GOM光学测量专题交流会 叶片光学测量专题会旨在向业界介绍并演示目前光学三维坐标测量技术及其解决方案。 通过本次交流会，便于广大业内新老用户认识和了解最新的光学三维坐标测量技术在现代叶片制造业供应链上的应用。同时还将介绍本技术在业内知名用户的应用情况。另外，GOM 公司和宝力公司团队会现场展示最新测量技术和检测功能。 ?用户介绍实际应用情况，现场互动，交流经验 ?现场示范多款 GOM 光学测量系统 ?详解评估和测量报告 ?有效的自动化扫描及测量，提高效率，降低成本 本次交流会展出的 ATOS TRIPLE SCAN 系列，可以完全测量叶片、工具、模具和铸件。 以提高效率和降低成本为目的，自动化扫描检测中心 ATOS SCAN BOX 也将闪亮登场。 GOM 公司最新的 V7.5 软件也在介绍之列。 本次交流会同时推介的 GOM 公司其他优质产品包括：TRITOP 测量和分析系统。 会议期间，除了丰富生动的现场演示，还为您提供了宝贵的技术交流机会。 自动化扫描检测中心 叶片及模具全面检测 我们荣幸在此正式邀请您参加首届叶片制造业光学测量技术专题交流会。 热忱期待您的光临！ 德国 GOM 光学测量技术有限公司 宝力机械有限公司 2012年8月 2012叶片制造业光学测量专题交流会 －会议指南 会议时间： 2012年9月20日 会议地点： 西安綠地筆克展覽中心 地址： 西安市高新区唐延南路4号 电话： 陈立新先生 报到时间： 2012年9月20日 报到地点： 西安綠地筆克展覽中心 2012叶片制造业光学测量专题交流会会 议 日 程 2012年9月20日 9:00 am 报到 9:30 am 吴家仁 Ben Ng Pro-Technic 欢迎致辞，会议介绍 9:45 am Pieter Schuer/ 吴家仁 GOM mbH / Pro-Technic GOM公司掠影 10:00 am 李智昌 Yoshiki Lee Pro-Technic 2012‘叶片制造业光学测量专题交流会开幕及展览简介 10:15 am 秦伟 Mr. Allen Qin Pro-Technic GOM光学测量技术在叶片造业的应用 10:45 am－11:15 am 会间休息 Coffee Break 11:15 am Pieter Schuer GOM mbH GOM产品在国外叶片制造业中的应用 11:30 am 秦伟 Mr. Allen Qin Pro-Technic GOM叶片专项功能演示 11:45 am －13:30 pm 午餐 Lunch 13:30 pm 孙国山 Mr. Grayson Sun Pro-Technic ATOS 系例产品最新发展 13:45 pm 王后顺 Mr. Wang Hou Shun Pro-Technic 自动化扫描检测中心 ATOS SCAN BOX介绍 14:00 －16:00 pm Workshop 现场演示和技术交流 西安綠地筆克展覽中心相关信息 ? 地址: 西安市高新区唐延南路4号 单位 邮编 地址 姓名 性别 部门 职务 电话 手机 电邮 备注： 由于到会来宾较多，为确保会议和接待质量，请您详细填写邀请信回执。 请于2012年8 月30日之前将回执传真或电邮至会务组。 传真：(029) 8751 5223 电邮：xaoffice@ 3. 请告知您的手机或Email，以便我们能将会议的准备情况及时通知您。 2012叶片制业光学测量专题交流会 —报名及回执 联系人： 电 话： 传 真：