大功率LED参考热阻测试系统研究与分析.pdfVIP

第 24卷 第 2期 液 晶 与 显 示 Vo1．24．NO．2 2009年4月 ChineseJournalofLiquidCrystalsandDisplays Apr．，2009 文章编号 ：1007—2780(2009)02—0294—05 大功率LED参考热阻测试系统研究与分析 王 伟 ，王万 良 ，潘建根 ，李 倩 (1．浙江工业大学 信息学院 自动化研究所，浙江 杭州 310014，E-mail；wangwei211x@163．com； 2．杭州远方光电信息有限公司，浙江 杭州 310053) 摘 要 ：介绍 了利用 电学测试方法测量大功率 LED参考热阻的原理和方法 。提 出了一种新 的基于 电学测试的参考热阻测试方法——脉冲测量法 。该方法在 自主研发的系统上得到应 用并取得了满意的效果。研究结果表明，该方法在热阻测试方面具有可靠、稳定和精确等 特点 。 关 键 词：大功率LED；参考热阻；脉冲测量法 中图分类号 ：TP216．1 文献标识码 ：A R (Jc]表示 ，它表征 了LED的散热能力 。热阻[8] 1 引 言 计算公式如下 ： 随着科学技术 的发展以及能源的 日益紧缺 ， RIh(Jc)一 (1) 半导体照明的研究获得 了很大的进步，而半导体 式(1)中：R (㈣为待测器件 P—N结 (J点)到指定 产品具有功耗低 、使用寿命长和响应时间短等众 参考点(C点)之间的热阻；TJ为测试稳定时的待 多优势和发展潜力 ，已呈现逐渐取代传统照明产 测器件的结温；Tc为稳定环境的参考点温度；P 品的趋势_l1]。大功率 LED是半导体照 明中的关 是待测器件在J点到c点之间的热传导通道上的 键器件 ，由于功率越来越大，大功率 LED 的耗散 耗散功率。 功率会导致 LED芯片PN结结温上升 ，从而显著 为简化评价方法，本文中以输入到 LED的总 地影响LED的光度 、色度和电气参数 ，甚至可能 电功率 P 作为上式中的PJc，且仅考察当LED 导致器件失效L2。]。因此 ，对大功率 LED的结温、 外壳 (或主要散热部分)与理想的 “无限大”热沉 良 热阻等热特性参数进行准确、快速 的测试就显得 好接触时，结点与外壳(或主要散热部分)之间的 十分重要 。 结壳热阻，为便于与通常的热阻概念区别，此时的 目前半导体器件工作温度和热阻的测试方法 热阻称为参考热阻，用R 表示。其计算公式如式 主要有 ]：红外热像仪法、电学参数法、光谱法 、光 (2)所示 ： 功率法等。本文研究 内容的原理基于电学测量方