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数字集成电路设计
第三讲:CMOS集成电路的物理结构与制造工艺
今天的话题
集成电路里面的“工艺层级”概念
MOSFET电路的物理结构
CMOS 电路的层级与物理结构
FET 阵列设计
CMOS 集成电路的制造
3
Design Abstraction Levels
n+
n+
S
G
D
+
DEVICE
CIRCUIT
GATE
MODULE
SYSTEM
0.35微米工艺、22nm工艺、16nm工艺,这些长度单位指的是什么?
课前问题
Fabrication and Layout
Slide 5
今天的课程简介
集成电路: 很多个晶体管在一个芯片上.
Very Large Scale Integration (VLSI): 非常多的晶体管
Metal Oxide Semiconductor (MOS) 晶体管
快速, 低成本, 低功率的晶体管
CMOS(互补型): n- 与p-type 的互补
今天的工作:教会每个人做一个CMOS集成电路!
基本的CMOS逻辑门电路的物理实现
晶体管的物理设计与工艺实现
剩下的课程:如何做一个好的集成电路
今天的话题
集成电路里面的“材料层级”概念
集成电路的物理结构
1.互连线与互连线延迟
2. MOSFET的物理结构
CMOS 电路的层级与物理结构
FET 阵列设计
CMOS 集成电路的制造
不同材料层级的多层叠加
集成电路里的材料层级
物理设计: 硅集成电路可以看成是一组形成图形的材料(工艺)层级的复杂集合体。
金属 Metal(铜或者铝)
绝缘体 Insulator (二氧化硅 即石英玻璃)
半导体 Semiconductor (硅元素 )
最简单的例子:两层
材料层分层实现!!!
Figure 3.1 Two separate material layers
三维结构与表现形式
Figure 3.2 Layers after the stacking process is completed
两根导线:顶视图与侧视图对结构的表现
侧视图显示工艺层级结构
绝缘层将两个金属层分开,形成电气差异
顶视图表示电路图形(Pattern)
(a) Side view
(b) Top view
三维结构与表现形式
Figure 3.3 Addition of another insulator and a second metal layer
增加一根不相连的导线
1. 覆盖一层绝缘层
2. 化学机械平坦化(英语:Chemical-Mechanical Planarization, CMP)
3. 增加金属层M2
增加一层金属层M2:顶视图不显示绝缘体,但是M1/M2不相连!
叠放顺序不由电路设计者决定,由制造工艺决定
(a) Side view
(b) Top view
今天的话题
集成电路里面的“材料层级”概念
集成电路的物理结构
1.互连线与互连线延迟
2. MOSFET的物理结构
CMOS 电路的层级与物理结构
FET 阵列设计
CMOS 集成电路的制造
从最简单的讲起:互连线的电阻与电容
从线电阻到互连线延迟
逻辑门之间通过图形(Pattern)化的金属线实现互连。互联线 (Interconnect)
不可能是理想的信号传递
受到金属材料物理性质与尺寸的直接影响
欧姆定律
线电阻Rline: 不可避免的寄生(parasitic)电气特性
希望线电阻约小越好
Figure 3.4 Symbol for a linear resistor
(3.1)
从最简单的讲起:互连线的电阻与电容
线电阻Rline的大小
Figure 3.5 Geometry of a conducting line
(3.2)
(3.3)
(3.5)
(3.4)
( :conductivity 导电率)
( :resistivity 电阻率)
(电阻率、线长、截面积)
薄层电阻模型
在这个公式里
哪些元素是工艺决定的?
金属层厚度t 和导电率
当l=w
(3.6)
(a) Top-view geometry
薄层电阻模型
n个薄层电阻Rs
Figure 3.6 Top-view geometry of a patterned line
(a) Top-view geometry
(b) Sheet resistance contributions
互连线电容
互连线同时也具有电容性
电容存在于任意两个被“电气”分开的导体之间
二氧化硅绝缘层分开了连接线层与半导体衬底层
回忆一下平板电容的结构
(3.13)
Figure 3.8 Geometry for calculating the line capacitance
Figure 3.7 Circuit symbol for a capaci
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