全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定.pdfVIP

书 第 ２８ 卷 第 ６ 期 实 验 流 体 力 学 Ｖｏｌ．２８，Ｎｏ．６ ２０１４ 年 １２ 月 Journal of Experiments in Fluid Mechanics Ｄｅｃ．，２０１４  文章编号：１６７２-９８９７（２０１４）０６-００８０-０６ doi：１０．１１７２９／ｓｙｌｔｌ 全内反射测速技术（TIRV）中 界面隐失波基准光强 I ０ 的确定 史 飞１，郑 旭２，陈荣前１，李战华２ （１．中国计量学院 计量测试工程学院，杭州 ３１００１８；２．中国科学院 力学研究所，北京 １００１９０） 摘要：基于隐失波全内反射的测速技术 ＴＩＲＶ （Ｔｏｔａｌ ｉｎｔｅｒｎａｌ ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ ｖｅｌｏｃｉｍｅｔｒｙ）是微纳流动中测量壁面附 近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布 I（z）随离开壁面的高度 z 指数衰减。若荧光粒子位于光 强分布中，其亮度也将符合此指数关系，通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置 z，而确定隐失波的基准光强 I ０ 是该技术的关键之一。基于粒子近壁 Ｂｏｌｔｚｍａｎｎ 浓度分布、粒子粒径不均匀性和隐失波光强公式，给出了粒子亮 度概率密度分布的数值解。实验测量粒子统计亮度分布后，依据实验和理论分布相同原则可定量确定基准光强 I ０。采用φ１００ｎｍ 和φ２５０ｎｍ 荧光粒子验证此方法并定量分析了粒径分散性对确定 I ０ 的影响。进一步采用 φ１００ｎｍ 粒子进行近壁速度测量实验，结果验证了本方法的有效性。 关键词：全内反射测速技术（ＴＩＲＶ）；隐失波；基准光强；纳米粒子；亮度分布 中图分类号：Ｏ３５３．５ 文献标识码：Ａ Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I ０ in total internal reflection velocimetry （TIRV） Ｓｈｉ Fｅｉ１，Ｚｈｅｎｇ Ｘｕ２，Ｃｈｅｎ Ｒｏｎｇｑｉａｎ１，Ｌｉ Ｚｈａｎｈｕａ２ （１．Ｃｏｌｌｅｇｅ ｏｆ ｍｅｔｒｏｌｏｇｙ ａｎｄ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｃｈｉｎａ Ｊｉｌｉａｎｇ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｈａｎｇｚｈｏｕ ３１００１８，Ｃｈｉｎａ；２．Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ ｏｆ Mｅｃｈａｎｉｃｓ，Ｃｈｉｎｅｓｅ Ａｃａｄｅｍｙ ｏｆ Ｓｃｉｅｎｃｅｓ，Ｂｅｉｊｉｎｇ １００１９０，Ｃｈｉｎａ） Abstract：Ｔｈｅ ｔｏｔａｌ ｉｎｔｅｒｎａｌ ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ ｖｅｌｏｃｉｍｅｔｒｙ （ＴＩＲＶ）ｂａｓｅｄ ｏｎ ｅｖａｎｅｓｃｅｎｔ ｗａｖｅ ｉｓ ａｎ ｅｆ- ｆｉｃｉｅｎｔ ｍｅｔｈｏｄ ｆｏｒ ｖｅｌｏｃｉｔｙ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｗｉｔｈｉｎ ａ ｆｅｗ ｈｕｎｄｒｅｄ ｎａｎｏｍｅｔｅｒｓ ｔｏ ｔｈｅ ｗａｌｌ．Ｔｈｅ ｅｖａ- ｎｅｓｃｅｎｔ ｗａｖｅ ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ，I（z），ｄｅｃａｙｓ ｅｘｐｏｎｅｎｔｉａｌｌｙ ｗｉｔｈ ｔｈｅ ｄｉｓｔａｎｃｅ z ａｗａｙ ｆｒｏｍ ｔｈｅ ｗａｌｌ．Ｗｈｅｎ ａ ｎａｎｏｔｒａｃｅｒ ｌｏｃａｔｅｄ ｉｎ ｔｈｉｓ ｆｉｅｌｄ ｉｓ ｉｌｌｕｍｉｎａｔｅｄ ｂｙ ｅｖａｎｅｓｃｅｎｔ ｗａｖｅ，ｉｔｓ ｒａｄｉａｔｉｏｎ ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ ｗｉｌｌ ａｌｓｏ ｏｂｅｙ ｔｈｅ ｅｘｐｏｎｅｎｔｉａｌ ｄｅｃａｙ ｌｏｗ，ａｎｄ ｔｈｕｓ ｉｔ ｉｓ ｐｏｓｓｉｂｌｅ ｔｏ ｄｅｔｅｒｍｉｎｅ ｔｈｅ ｎａｎｏｔｒａｃｅｒ’ｓ z ｐｏｓｉｔｉｏｎ ｂｙ ｉｔｓ ｉｌｌｕｍｉｎａｔｅｄ ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ．Ｏｂｖｉｏｕｓｌｙ，ｏｎｅ ｏｆ ｔｈｅ ｋｅｙ ｉｓｓｕｅｓ ｏｆ ｔｈｉｓ ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ ｉｓ ｔｏ ｄｅｔｅｒｍｉｎｅ ｔｈｅ ｂａｓｅ ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ I ０．Ｉｎ ｔｈｉｓ ｐａｐｅｒ，ａ ｎｕｍｅｒｉｃａｌ ｓｏｌｕｔｉｏｎ ｏｆ ｔｈｅ ｎａｎｏｔｒａｃｅｒ ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ ｄｅｎｓｉｔｙ ｆｕｎｃｔｉｏｎ ｉｓ ｇｉｖｅｎ ｔｏ ｐｒｅｄｉｃｔ ｔｈｅ ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ ａｃｃｏｒｄｉｎｇ ｔｏ ｔｈｅ ｅｘｐｏｎｅｎｔｉａｌ ｄｅｃａｙ ｏｆ ｔｈｅ ｅｖａｎｅｓｃｅｎｔ ｗａｖｅ，ｔｈｅ ｔｒａｃｅｒ ｃｏｎｃｅｎｔｒａｔｉｏｎ ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ ａｎｄ ｔｈｅ ｔｒａｃｅｒ ｓｉｚｅ ｖａｒｉａｔｉｏｎ．Ｂｙ ｃｏｍ- ｐａｒｉｎｇ ｔｈｅ ｍｅａｓｕｒ