利用软X射线双频光栅剪切干涉技术诊断金等离子体.pdfVIP

物 理 学 报 Acta Phys. Sin. Vol. 63, No. 12 (2014) 125210 利用软X射线双频光栅剪切干涉技术 诊断金等离子体? 王琛1)? 安红海1) 王伟1) 方智恒1) 贾果1) 孟祥富1) 孙今人1) 刘正坤2) 付绍军2) 乔秀梅3) 郑无敌3) 王世绩1) 1)(上海激光等离子体研究所, 上海 201800) 2)(中国科学技术大学, 国家同步辐射实验室, 合肥 230029) 3)(北京应用物理与计算数学研究所, 北京 100088) ( 2013年 12月 12日收到; 2014年 2月 13日收到修改稿 ) 激光辐照靶产生的等离子体电子密度的诊断对于惯性约束聚变、等离子体物理、高能量密度物理等相关 领域的研究具有重要意义, 特别是中、高Z材料等离子体临界面附近的电子密度分布信息的测量. 采用波长 13.9 nm的类镍银软X射线激光作为探针, 利用双频光栅剪切干涉技术尝试诊断了激光辐照金平面靶产生的 等离子体的电子密度分布. 实验获得了清晰的干涉条纹图像, 通过对条纹的初步处理, 测量到的最高密度达 到了约 1.4倍临界密度. 通过与相关理论程序模拟结果对比, 发现实验与模拟存在一定的偏差, 为进一步优化 模拟程序提供了有益的参考. 通过实验, 充分表明了软X射线激光双频光栅干涉技术在诊断中、高Z材料临界 密度附近区域等离子体方面的实用性. 关键词: 等离子体诊断, 软X射线激光, 双频光栅干涉技术 PACS: 52.70.–m, 52.70.La, 07.60.Ly, 42.55.Vc DOI: 10.7498/aps.63.125210 1 引 言 激光辐照靶产生的等离子体状态的诊断, 特别 是中、高Z材料等离子体临界面附近的等离子体状 态信息的测量, 对于惯性约束聚变 (ICF)、等离子体 物理、高能量密度物理等相关领域的研究具有重要 意义. 诊断等离子体信息比较常规的方法包括光 谱测量法 [1?3]、汤姆孙散射 [4?7]、探针技术 [8?18]等. 其中探针技术是一种主动诊断技术, 原理简单, 结 果清晰, 因此受到了广泛的重视. 特别是基于软X 射线激光的软X 射线波段的探针技术 [8?16]在诊断 高温稠密等离子体临界面附近等离子体方面更是 具有难以替代的作用. 软X射线激光 [19?25]作为探针诊断高温稠密 等离子体的技术具有显著的特点. 首先是波长合 适, 在 10—30 nm的软X射线波段, 正适合进行驱 动激光对应的临界面附近等离子体的实验诊断; 其 次光源是激光, 不但可以利用干涉技术直接诊断等 离子体的电子密度, 而且良好的单色性、方向性使 得数据处理和反演要简单得多. 十几年来, 逐步发 展了阴影成像法 [8]、偏折法 [9]、干涉法 [10?16]等多 种诊断技术, 并在等离子体诊断方面获得了很好的 应用 [8?16]. 在所有的方法中, 干涉法由于能够直 接诊断等离子体临界面附近的电子密度分布, 因此 对激光 ICF、等离子体物理等领域的研究工作具有 很好的应用价值. 在软X射线波段, 由于材料强烈 的吸收, 通常只能用反射元件, 并且系统对光学元 件的面形、粗糙度等提出了极高的要求. 正因为如 此, 在可见光波段广泛采用的各种干涉方法中, 只 有很少的几种能够推广到软X射线波段, 包括多层 ? 国家自然科学基金 (批准号:和国家高技术研究发展计划 (批准号: 2010AA8041014)资助的课题. ? 通讯作者. E-mail: wangch@ ? 2014 中国物理学会 Chinese Physical Society 125210-1 物 理 学 报 Acta Phys. Sin. Vol. 63, No. 12 (2014) 125210 膜分束马赫 -曾德尔 (M-Z)干涉法 [10,11]、光栅分束 M-Z干涉法 [12]、反射式菲涅尔双镜法 [13]、劳埃德镜 法 [14]等, 而其中能够用来诊断高温稠密等离子体 的方法则更少. 在所有这些干涉方法中, 利用多层 膜分束镜分束M-Z干涉诊断方法是诊断高温稠密 等离子体的有效方法, 具有光路清晰、测量视场大、 数据处理简单明了等多方面的优点, 因此受到很大 关注, 并逐渐成为一种比较成熟的方法 [10,11]. 然 而, 多层膜分束镜是一层厚度仅百纳米量级的薄 膜, 由于应力等因素, 面形比较差, 这会影响到诊 断应用实验, 对结果造成巨大的误差 [15]. 但多层 膜分束镜面形差是内在因素, 解决起来技术难度极 大. 其后, 又发展了光栅分束的M-Z干涉方法 [12], 很好地解决了分束镜面形影响的问题, 但光路调节 复杂、探针光源要求高的问