基于扫描的SoC全速测试及应用.pdfVIP

E朋眶喔EF~Ii!. 胡 晋:基于扫描的 SoC 全速测试及应用 基于扫描的 SoC 全速测试及应用 胡晋 〈东南大学集成电路学院 江苏南京 210096) 摘 要:介绍了在系统级芯片(SoC)测试中所用到的基于扫描结构的全这测试.首先介绍了转换故障模型和路径延返 故障模型，以及测试时采用的具体的两种测试方法，然后总结了一些测试时要注意的事项，最后结合上述理论，对一款基于 ARM 的自主研发SoC 芯片进行了实验，并用时序测试矢量对 stuck - at 饮障进行模拟，减少了测试矢量的个数，节约了测试 成本，得到了预期的结果。 关键词:片上系统 g扫描占全这测试，ARM 中图分类号: TP306 文献标识码 :B 文章编号 :1004 -373X(2007)08 -192 -03 Scan - based At - speed Testing and Application of SoC HU Jin (School o[ Integrated Circuit, Southeast University , Nanjíng,210096 ,China) Abstract: This paper introduces the scan - based at - speed testing used in SoC. At first it introduces the transition fault module and the path delay fault module.including two specific methods which are used in testing. Then it summarizes several important vectors of testing . At last. we validate our theory by a SOC chip based on ARM processor. We simulate the stuck- at fault with timing fault patterns because it can decrease the test volume and reduce test cost. The result is given in the con- clusion. Keywords: SOC, scan, at - speed testing; ARM 随着现代超大规模集成电路的规模日趋增大，对集成 电路测试的要求也在不断提高。对于工作在高速下的数 字系统，不光要针对其逻辑结构进行测试，还要求其信号 能在指定周期内达到稳定状态。这大大提高了测试要求， 不仅要求对电路逻辑缺陷进行测试并且要求设计者能对 时序缺陷进行测试。因此为了提高测试质量和满足时序 测试的要求，必须在额定时钟速度下施加测试矢量并观察 响应.J!P进行全速(at - speed)测试。 1 转换故障、路径延迟故障的模型以及测试矢量生成 进行全速测试，首先是要选择测试时针对的故障模 型，最常用的全速测试模型有转换故障模型和路径延迟故 障模型两种。 转换故障是指电路中的缺陷使单条连线上传播的信 号变慢，信号变慢又分慢上升和慢下降两种。转换故障的 测试矢量为测试矢量对。测试矢量对由以下两步产生=假 设电路中某节点存在一个由低到高的转换故障，首先生成 测试矢量 Vz.Vz 能将该连线的逻辑值置为 1 同时将连线 上的逻辑值传递到扫描路径;接下来生成测试矢量矶 ，V1 能将该连线的逻辑值置为 0。随后在测试过程中第一步 先施加 V1 初始化连线状态，第二步是施加吭，使得连线上 产生一个由低到高的转变，第三步是捕获这个转变.转换 收稿日期 : 2006 - 08 - 24 192 故障的测试矢量主要是针对大的延迟量的局部点延迟 缺陷。 路径延迟故障，即当电路路径中延迟缺陷引起的组合 路径延迟积累到超过规定的时间，无法按时完成逻辑功 能，故障就产生了。路径延迟故障的测试矢量同样为测试 矢量对。假设电路中存在一个由高到低的路径延迟故障， 测试矢量对(飞 .Vz )必须能够在该路径的输入端产生高到 低的转变，同时能够敏化该路径使得输入端的转变传递到 路径的输出端。根据是否考虑存在其他路径延迟故障，路 径延迟故障的测试矢量可以分为强健和非强健两种。非 强健测试矢量只有在没有其他路径延迟故障存在的情况 下才能确保路径延迟故障;而强健测试矢量则能确保检测 出路径延迟故障，与电路的延迟分布无关。显然，在测试 矢量的路径敏化过程中，强健测试矢量对路径外信号的取 值以及电路本身的结构要求更高，这增加了测试矢量生成 的难度。值得注意的是，上述测试矢量 V1 和 Vz 未必是单 个