密码芯片安全扫描方法.pdfVIP

第 38 替第 4 期 2008 年 8 月 微电子学 凡ficroelectronic$ Vol. 38 , No. 4 Aug.2008 密码芯片安全扫描方法 陈华锋，洗海斌，严晓浪 (浙江大学 超大规模集成电路设计研究所，杭州 310027) 摘 要: 在密码芯片中，为提高叮测性引入的基于扫描的可测性设计会导致安全性的下降。文章 提出了一种针对一类椭圆曲线密码的硬件实现的攻击方法，进而提出一种简单有效的密码芯片的 安全扫描方法，使得在保持高测试覆品率的同时，并不降低芯片的安全性。该方法通过对芯片耳作 模式的控制，采用屏蔽扫描使能信号的方式，使得在芯片中存在安会信息的情况下扫描功能失效， 解决了由于扫描链的设计所引入的安全信息泄露的问题。 关键词: 密码芯片;扫描链;可测性;安全性 中阁分类号: 丁N918.4;TN402 文献标识码: A 文章编号: 1004-3365 (2008) 04心461-04 A Secure Scan Method for Crypto Chips CHEN Huafeng , SHEN Haibin , YAN Xiaolang (lnstitute 01 VLSI Design , Zhejíang Universíty , Hangzhou 310027 , P. R. αína) Abstract: The design-for-testability structure based on scan-chain often ωmpromises the security of cηrpto chips. A method to attack certain hardware implementation of elliptic curve cryptography was presented. And an 创sy but effective secure scan method against the attack was proposed. which would not compromise the security of the chip, while maintaining high fault coverage. By controlling operational mode of the chip, the disability mecha甲 nism of scan enable signal was applied.丁he sωn function was disabled when there existed security information in the chip. It solved the problem of secure information disclosure caused by scan chain design. , Keywo时s: Crypto chipI Scan chain; Testabilíty; Security EEACC: 1130B 1 ~I 宫 为了满足数据吞吐率的要求，通常采用硬件的 形式来实现各类密硝算法。为确保密码芯片的正确 性，必须对芯片进行测试。基于扫描的可测性设计 (DIT)因其简单且能得到很高的故障覆盖率阳最 为常用。扫描链的引人解决了可测性设计中的可控 性和可观察性的问题;但是，由于扫描链中的寄存器 信息可被观棋与分析，导致癌钥安全性降低。因此， 在引人扫描链的同时，必须采取措施，防止破坏芯片 的安全性。 文献[lJ和文献[均在密码芯片基于扫描的可测 收稿日期: 2007-11-20; 定稿日期: 2008-01-15 性设计方面进行了有就的探讨。文献[lJ采用一种 扫描链榄杂(Scan chain scrambling)技术，它采用震 排序扫描链的方式，使信息的推导和分析变得困难。 然而，除了面积代价较高、加大路径的延时外，正如 文献[2J所指出，针对信息的统计分析依然可能世篇 关键信息。文献[2J提出一种安全扫描的技术，设计 了安全模式和非安全模式。非安全模式下，电路可 进入正常工作模式或测试模式;但在安全模式下，除 非先对系统断电或复位，否则不能进入测试模式，有 效保护了关键信息。但是，非安全模式下的正常工 作模式并投有实际意义，而且，在 DFT设计巾，镜像 密钥寄存器(MKR)并非必需的部件，可以用现存的 寄存器来替代。因此，面积开销仍有进一步降低的 基金项目:国家高技术研究发展计划基金资助项日 (2005AAIZ1260) ;浙江省科技计划丢在金资助项目 (2004Cll043) 462 陈华锋等 z 榄峭i芯片安~拍捕方法 2008 年 空间。 本文通过对常用