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高级统计质量控制工具 内容： CUSUM控制及其应用 EWMA控制及其应用 自相关过程的质量控制 CUSUM控制及其应用 常规控制图的不足 常规休哈特控制图存在着对过程小偏移不灵敏的缺陷。 CUSUM控制图的诞生正是为了解决过程小偏移的质量控制问题。 CUSUM控制图是1954年佩基(Page)提出的。 常规休哈特控制图在诞生之时，只有一条判异准则“点出界就判异”，至于其它的判异准则，诸如：关于“界内点排列不随机”的准则，都是后来人们增加的。增加这类判异准则的原因，这是受到CUSUM、EWMA控制图设计思想的影响。 CUSUM控制图的原理 前20个观测值随机地取自均值为 =10、方差为 =1的正态分布。 后10个观测值随机地取自均值为 =10.5、方差为 =1的正态分布。 30个数据的单值控制图 常规控制图中的均值控制图对于偏移幅度，如1.5σ、2σ或者更大的偏移情况，都是很有效的，而对于较小的偏移则不太有效。 对小偏移的检测非常重要时，CUSUM控制图不失为一种好方法。 CUSUM控制图包容了观测值序列的全部信息，计算观测值与目标值差值的累积和。 假设采集到样本容量 的样本，用 表示第j个样本的均值。如果以 表示过程均值的目标值，那么，CUSUM统计量为： 当过程处于稳态时，CUSUM统计量Si是在零附近波动的随机变量，即均值为零。 若过程出现偏移， 偏移后的过程均值上升为?1 ?0，那么，向上的正偏移就会不断累积到CUSUM统计量Si中； 偏移后的过程均值下降为?1 ?0，那么，向下的负偏移就会在CUSUM统计量Si中不断累积。 依据CUSUM统计量Si打点形成向上或向下的趋势，可以作出过程均值是否发生偏移的判断。（优点？） CUSUM控制的设计思想 CUSUM控制图的理论基础是序贯分析原理中的序贯概率比检验(Sequential Probability Ratio Test，简称SPRT)，这是一种基本的序贯检验法。 CUSUM控制图的设计思想是对信息加以累积，将过程的小偏移累加起来，以起到放大的效果，进而，提高检测过程小偏移的灵敏度。 在检测过程均值的小偏移时，如偏移幅度在0.5到2倍标准差之间，CUSUM控制图更有效。检测这个范围的过程偏移量，CUSUM控制图比相应的常规控制图要快2倍，即所需的样本数更少。 利用CUSUM控制图，过程偏移量可以利用点子倾斜程度的变化进行估计。并且，通过观察倾斜程度的变化，可找到过程出现变化的起点。 CUSUM控制方法——V型模板 V型模板的判断准则 V型摸板提供了一种与常规控制图的控制界限相似且可视的控制方法。 V型模板两臂的作用与常规控制图的控制界线是一致的。 如果O点位于Sn处，S1 ,S2 ,…,Sn-1所有的点子都落在V型模板的两臂之内，则过程受控。 如果存在点子Sj落在V型模板的臂外，则认为过程失控。 如果存在点子落在V型模板的下臂界外时，表示过程均值出现了向上的偏移。 如果存在点子落在V型模板的上臂界外时，表示过程均值出现了向下的偏移。 V型模板还可得到…… 因为，第j个点子落在臂外，所以，可初步判定过程开始出现异常的起点为j。 可估计出从第j个点子到第i个点子（O点所在位置）之间发生偏移的过程均值为： V型模板的设计 V型模板的重要参数 H：称为决策值，是V型模板上点O处垂直线段长度的一半，即OU或OL。 K：称为参考值，指V型模板臂的斜度，即x值每增加一个单位，y值要增加幅度。 V型模板的特点 V型模板本身比较简单，可以用透明的材料作成，就象一把工具尺，使用方便，直观，可视性强。 但V型模板法不适合计算机自动处理。因而，近年来，V型模板法逐渐被计算更简单的固定控制界法所替代。 CUSUM控制——固定控制界法 平均链长ARL (Average Run Length) ：对某一个确定的质量特性水平，控制图从开始进行控制直到发出警报信号为止所抽取的平均样本数。 过程处于稳态时，均值控制图的ARL为 370=1/0.0027 即过程处于稳态时，平均每370个样本中会产生一个失控的信号，即存在一个界外点。 显然，过程处于稳态时，ARL越长越好；过程出现异常时，ARL越短越好。 令 表示均值的偏移量为 时的ARL。 固定控制界法的常见设计思路 CUSUM统计量 其中：K是参考值(Reference Value)，通常取稳态过程均值 与需要检测出的过程偏移 之间差值的一半，即 假设 如果 小于零，则 自动设置为0。 如果 大于决策值 (Decision Value) H， 那么，可以判断过程均值已经