圖形反走样技术.pptVIP

图形反走样技术 走样现象 走样：由于低频取样不充分取样而造成的信息失真。 光栅算法的取样过程是将图元数字化为离散的整数像素位置，所生成的图元显示具有锯齿形或台阶状外观。 增加光栅系统取样率的一种简单方法是：以较高分辩率显示对象。 两个问题难以解决： 将帧缓冲器做成多大并仍保持刷新频率在每秒30～60帧? 用连续参数精确地表示对象需要任意小的取样间隔。 即使用当前技术能达到的最高分辨率，锯齿形仍会在一定范围内出现。 除非硬件技术能处理任意大的帧缓冲器，增加屏幕分辨率还不能完全解决走样问题。 ● 走样现象 ● 反走样技术 ? 非加权采样 ? 加权采样 ☆图形反走样 ? 线段过取样 ? 宽线段过取样 ? 线段区域取样 ? 过滤技术 ? 像素移相 ? 线亮度校正 ? 边界反走样 ? 边界反走样 ? 边界反走样 反走样技术 反走样用来校正不充分取样过程，避免从这种周期性对象中丢失信息，改善所显示的光栅线的外观。 把取样频率至少设置为出现在对象中的最高频率的两倍。这个频率称为Nyquist取样频率fs： fs=2fmax。 换言之，取样区间不应超过循环区间(Nyquist取样区间)的一半。 对于x区间取样，Nyquist取样区间△xs为： △xs =△xcycle/2， 其中：△xcycle=1/fm