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2017-04-20 发布于湖北
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计算薄膜电阻的漂移.pdf

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计算薄膜电阻的漂移

VISHAY INTERTECHNOLOGY, INC. Resistive Products Technical Note 计算薄膜电阻的漂移 1. 薄膜电阻漂移的计算模型所有电阻都有一个共同的特性：在施加电负载和负载持续时间内，电阻的阻值会随膜温而变化。根据所采用的电阻技术，如用来制造电阻体和端接的材料，阻值变化的幅度和可预测性的变化会相当大。用纯金属和专用金属合金制造的电阻有一个非常大的优点，其所适用的物理定律和有关公式使工程师能够精确地预测电阻漂移。对于用薄膜技术制造的电阻，根据阿伦尼乌斯定律，可推导出如下广为接受的表达式： ? – ? -----------------j 0 30K ΔR t ΔR --------------- = 2 × ---- × ------------------ R 3 t R ()t, ?j 0 ()t0, ?0 ΔR ΔR ΔR ------------------ ------------------ ------------------ R 参考电阻漂移R R ()t0, ?0 ()t0, ?0 ()t0, ?0 t 实际的工作时间 t0 工作参考时间 ?0 参考膜温 ?j 实际膜温根据这个公式，薄膜电阻的漂移： ? 温度每增加 30K，漂移增加 1 倍 ? 与负载持续时间的立方根成比例增加与这些考虑因素相关的是电阻膜的温度，甚至是电阻芯里面任何热点的温度。电阻膜的温升由热传导、对流和辐射的定律决定的。所有这三个物理定律可以用电阻的热阻 Rth 来简化描述。如果已知热阻、环境温度 ?amb 和功率负载 P，膜温可以用下面的公示来计算： ?j = ?amb + Δ? ?j = ?amb + Rth x P TECHNICAL NOTE 很明显，电阻芯的温度不但取决于施加的电功率，导热条件和环境温度也