4.1催化剂表征技术-电镜技术.pdf

四、催化剂表征技术 ? 4.1 电镜技术 ? 4.2 多晶X射线衍射 ? 4.3 X射线 光电子谱(XPS) ? 4.4 全自动比表面及孔隙度分析仪 ? 4.5 红外吸附 ? 4.6 热分析技术 ? 4.7 程序升温分析技术 ? 4.8 核磁共振技术 ? 4.9 原位技术 ? 4.10 激光拉曼技术 前言 表征，即特性的描述。 采用现代科学手段与现代分析仪器，对一 种物质进行物理化学鉴定、鉴别等一系列特性 及特征的描述。英语的表征用Characterization 来表示。 4.1 电镜技术 电镜技术主要用于测量材料的颗粒度、粒径 及分散性，可观察到样品表面的微细形态结构。 ? SEM (Scanning Electronic Microscopy) ? TEM (Transmission Electron Microscope) ? STM (Scanning Tunnelling Microscope) ? AFM (Atomic Force Microscope) 对一种粉体材料尺度的表征，首先要区分以下概念 1. 颗粒与晶粒 颗粒：呈粒状的固体粒子，可能是单晶体也可能 是多晶体、非晶体或准晶体； 晶粒：指单晶颗粒，即颗粒内为单晶，无晶界。 2. 一次颗粒与二次颗粒 一次颗粒：指含有低气孔率的一种独立的粒子； 二次颗粒：是指人为制造的粉料团聚粒子。例如 制备陶瓷的工艺过程中所指的“造粒”就是制造二次 颗粒。 3. 软团聚与硬团聚 软团聚：一种由范德华引力作用引起的颗粒间 聚集，软团聚可用机械的办法分开。 硬团聚：在强的作用下使颗粒团聚在一起，不 能用机械的方法分开。 软团聚若不加以解决，在粉体干燥及煅烧过程 中将很可能转变为硬团聚，粉碎、加压过程只能破 坏软团聚。 4. 纳米微粒 一般指一次颗粒。它的结构可分为晶态、非晶态 和准晶态。在晶态的情况下，纳米粒子可以为多晶体 ，当粒径小到一定值后则为单晶体。只有纳米微粒为 单晶体时，纳米微粒的粒径才与晶粒尺寸相同。 颗粒尺寸的定义： 对球形颗粒来说，颗粒尺寸（粒径）即指其直径 。对不规则颗粒尺寸的定义常为等当直径，如体积等 当直径，投影面积直径等。纳米颗粒的粒径测量方法 很多。如透射电镜法、X??线衍射法、比表面积及拉 曼光谱法。 扫描电子显微镜 (Scanning Electronic Microscopy, SEM) SEM成像原理 SEM成像原理 1. 弹性散射与非弹性散射 弹性散射：散射过程中入射电子只改变方向，总动能基 本不变。弹性散射的电子符合布拉格定律，携带有晶体结构 、对称性、取向和样品厚度等信息，用于分析材料的结构。 非弹性散射：散射过程中入射电子的方向和动能都发生 改变。用于电子能量损失谱(EELS)，提供成分和化学信息， 也能用于特殊成像或衍射模式。 2. 电子的非弹性散射 (1) 背散射电子：指入射电子与样品相互作用(弹性和非 弹性散射)之后，再次逸出样品表面的高能电子，其能量接 近于入射电子能量。产生深度：100 nm~1 mm。背散射电子 的产额随样品的原子序数增大而增加，即其电子信号的强度 与样品的化学组成有关，可用于分析形貌特征、显示原子序 数衬度及定性成分分析。 (2) 二次电子：入射电子与样品相互作用后，使样品原 子较外层电子(价带或导带)电离产生的电子，能量较低。产 生深度：5 nm~10 nm，分辨率高。二次电子的产额随样品 的原子序数的变化不大，主要取决于表面形貌。 2. 电子的非弹性散射 (3) 特征X射线：原子的内层电子受到激发后在能级跃迁 过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。 产生深度：500 nm~5 mm。用于透射电镜和扫描电镜中的X 射线能谱分析(EDS) 。 (4) 俄歇电子：假如入射电子有足够的能量使内层电子( 如K层)激发，若其他内层电子已经填满，则电子只能跑到原 子外，在原子内产生空穴，这时其他内层电子跳下来填补空 穴。这个跳跃释放出的能量被其他内壳层电子吸收，使一个 内壳层电子跳出样品外，则该电子叫俄歇电子。俄歇电子对 氢元素敏感，平均自由程小于1 nm，故给出的是表面化学信 息。 扫描电镜的结构 扫描电子显微镜 由： 电子光