键合线故障下IGBT的电磁干扰特性研究.pdfVIP

第23卷 第1期 仪器仪表用户 EIC Vo1．23 2016年1月 NSTRUMEN14 10N 2016 No．1 键合线故障下IGBT的电磁干扰特性研究 李豹 ，杜明星 ，唐吉林 ，张刚 ，魏克新 (1．天津市复杂系统控制理论及应用重点实验室 (天津理工大学)，天津 300384； 2．国网蓬莱市供电公司，山东 烟台 265600) 摘 耍：电力电子装置中的IGBT模块存在多种故障类型，键合线脱落故障是其中最常见的一种，如何判定IGBT发生 键合线脱落故障成为一个研究难点。通过分析键合线的脱落机理和发生故障时对IGBT开关过程的影响，可以得出键 合线故障会导致IGBT模块工作过程中产生的电磁干扰变大，然后通过实验进行验证。结果表明，通过监测回路中电 磁干扰强度来诊断IGBT模块发生键合线脱落故障是可行的，且具有一定的工程实际意义。 关键词：绝缘栅双极型晶体管；键合线脱落故障；电磁干扰 中图分类号：TM937 文献标识码 ：A 文章编号：1671-1041(2016)01—0052—03 TheResearchonElectromagneticInterferenceCharacteristicsof IGBTundertheBondW iresFailure LiBao，DuM ingxing，TangJilin，ZhangGang~WeiKexin ， (1．TianjinKeyLaboratoryofControlTheory＆ApplicationsinComplicatedSystem，TianjinUniversityofTechnology，Tianjin， 300384，China；2．PenglaipowercompanyofStateGrid，ShandongYantai，265600，China) Abstract：IGBTmoduleofpowerelectronicdevicesexistmanyfaulttypes，andbondingwireofffaultisthemostcommonone， how todeterminetheoccurrenceofIGBTbondingwireofffaulthasbecomearesearchdifficulty．Byanalyzingthemechanism ofbondingwiresoffandtheeffectofIGBTswitchingprocesswhenafaultoccurs，showsthatbondingwirefailurewillcausethe electromagneticinterferencebecomeslargeduringtheIGBTmoduleworkingprocess，andhasbeenverifiedbyexperiment．The resultshowthatitisfeasibletodiagnoseIGBTmodulehasabondingwireofffaultbymonitoringtheintensityofelectromagnetic interferenceofthecircuit，andithassomepracticalengineering． Keywords：InsulatedGateBipolarTransistor(IGBT)；bondingwireofffault；electromagneticinterference 0 引言 IGBT模块工作过程中的电磁干扰特性可以诊断其键合线故 障情况。