一、单元名称粒径分析装置一一一一筛析实验.doc

一、單元名稱：粒徑分析裝置一一一一篩析實驗 二、單元目標： 熟悉標準篩的規格。 學習表準篩及篩振盪裝置之使用方法與維護。 學習以篩析法作粉粒體之粒徑分析，並繪成粉徑分佈圖。 三、相關知識： 經過研磨後之粉體常呈大小形狀不規則之狀態存在。為要獲得均一的產品或欲知其大小分布情形，常以篩選方式處理。篩選隻裝置由標準篩與篩震盪機所組成。 標準篩 標準篩之規格有多種，如表一所示倍，也有介於中間之篩網，即為次一號孔徑比為倍，惟不常用。 篩析 以標準篩篩析時，將標準篩的篩孔最小者(號碼最多者)置於最下層(底盤之上)依序向上為篩孔較大者重疊套合，最上層加蓋，最下層置底盤後至於震盪裝置上固定，啟動震盪器搖動相當時間後停止，分別測定各篩上物料的重量，以求粒徑分析。至於符號Dpi，則為顆粒直徑等於i號篩網之篩孔徑，而平均粒徑為篩網i之篩孔徑Dpi與篩網i+1之篩孔徑Dpi之算術平均值。即 (11-1) 粒徑分布的表示法 粒徑分佈以分佈曲線表示，常用者有累積分佈曲線如圖11-1與頻率分佈曲線如圖11-2及R-R-S{Rosin-Rammler-(Sperling-Bennett) }分佈曲線，在此僅介紹前二種: 累積分佈曲線 累積分佈曲線，通常以殘留率曲線及通過率曲線表示之。所謂殘留率:即累積殘留於篩網以上之粉粒重量佔試料總重之百分比(R%)。以R對Dp作圖即得殘留率曲線，實際上R可以求得之: R=ΣWi W×100 (11-2) 式中ΣWi：篩網i以上累積之試料重(Kg) W：試料總重(Kg) Dp：以篩孔徑代表其粒徑D 通過率 :即累積通過篩網以下之粉粒重量佔試料重量之百分比(D%)。以D對Dp作圖即得通過率曲線，D與R之關係 D=100–R (11-3) 以上兩曲線以半對數座標紙繪製之，圖11-1為累積分佈曲線。 頻率分佈曲線 殘留於篩網上的粉粒重量佔總物料之百分比(y)對粉荔枝平均粒徑作圖，並以半對數坐標紙繪製之。若利用頻率分佈，則須假定在單一篩網部分中的全部粒子具有同樣大小。頻率分佈曲線圖，其準確度較差，數據處理上較為主觀，使用上較困難，但其優點為較易看出，粒子大小分布情形。而留在篩上試料之重量百分比y: %y= Wi W ×100 (11-4) 式中Wi：留在篩上試料重(㎏) 五、實驗步驟： 將欲測粒徑分布之粉體試料充分乾燥後，利用四分法取出500克左右之試料，並秤其重量。 取出12個由10mesh至200mesh(10，14，20，28，42，60，80，100，120，140，170，200mesh)之標準篩，先秤各空篩網之重，並記錄。因震盪器僅能容6個標準篩，故須分兩次震盪。或依粒徑之大小選連續六個號碼以一次操作。 將六個篩一網目之大小，由大而小，由上而下重疊排列，並在最下層裝置承受皿構成一組篩。 將步驟1.之試料至於篩組之最上層篩(及最粗之篩)內，並加上蓋子，鎖緊蓋子。 將篩組置於震盪機上，震盪一定時間後即行停止。(為了解時間對篩析之引響，可先將震盪機做不同時間如1、2、5、10分鐘之震盪時間)。 由步驟3.(須分兩次篩析時)之承受皿取出粉體試料置於80～200 mesh及承受皿所構成之篩組之最上層篩內，按步驟5.同一條件，再以震盪以分析之。 將各殘留試料粒子之篩子取出秤重。因有不少粒子會夾留在篩子之網孔上，將各篩與殘留物一併秤重，扣除各空篩網之重，可得殘留試料重量。 六、實驗紀錄報告： 網 目 篩網孔徑 Dpi ㎜ 平均粒徑 ㎜ 留再篩上試料重 (Wi) g 留再篩上試料之重量百分比 y % 累積試料重 g 累積殘留百分比 R % 累積通過百分比 D % 10 1.651 2.007 14 1.168 1.410 20 0.833 1.001 28 0.589 0.711 42 0.315 0.470 60 0.249 0.300 80 0.177 0.213 100 0.149 0.163 120 0.125 0.137 140 0.105 0.115 170 0.088 0.097 200 0.074 0.081 底盤 0.037 七、問題與討論： 1.戴勒標準篩網目(Mesh)的意義為何? 2.何為頻率分布取線圖? 3.試述通過率與殘留率之區別? 4.( )戴勒標準