载流X荧光分析仪对数弯晶分光系统的优化设计.pdfVIP

第33卷第4期 甘 肃 冶 金 V01．33 No．4 2011年 8月 GANSU METALLURCY Aug．，2011 文章编号：1672-4461(2011)04-0103-03 载流 X荧光分析仪对数弯晶分光系统的优化设计 陈国照 (西北矿冶研究院，H肃‘ 白银 730900) 摘 要 ：对数弯晶分光光路的设计一直是波长色散型x荧光分析仪研究中一个难以解决的课题 ，通过计算机辅助 设计，找出了对数弯晶聚焦规律，实现了以提高x射线衍射强度并兼顾分辨率为 目标的弯晶光路优化设计，并经过 了实践验证。 关键词 ：载流x荧光分析仪 ；弯晶；衍射强度；分辨率 ；优化设计 中图分类号：0657．34 文献标识码：B OptimalDesignforLog—spiralCryrtalDispersiveSystem of On-·steam X--rayFluorescenceAnalyzer CHEN Guo—zhao (NorthwestResearchInstituteofMiningandMetallurgy，Baiyin730900，China) Abstract：Log—spiralcrystal fluorescencedispersivesystem designhaslongbeenatoughworkinwavelengthdispersiveX- Rayfluorescenceanalyzerresearch．FocusingprincipleforLog—spiral crystalwasofundoutthroughCADandoptimaldesign forlog—spiral crystal dispersivesystem Was achieved，whichwasverifiedinpractice． KeyW ords：On—stream X—Rayanalyzer；curvedcrystal；diffractionintensity；resolution；optimal desing 1 引言 缝 在波长色散 x荧光分析仪设计中，分光谱仪的 光路设计是关键环节，良好的设计可提高分光系统 的荧光强度和分辨率，是提高系统分析精度的基础。 分光系统基于x射线的晶体衍射，而x射线的 晶体衍射是由非变质相干散射 x射线的相干干涉 引起的。如图1所示，晶体的衍射遵从乌利夫一布拉 格公式 ： 图 1 平面 晶体布拉格衍射示意 图 nA=2dsinO (1) 式中： 为荧光射线的波长；d为弯晶晶格间 用于分光谱仪的晶体分为平面晶体 (简称平 距 ；n为衍射级。 晶)和弯面晶体 (简称弯晶)两大类。 其物理解释为：当一束平行相干的x射线以0 平晶分光系统的优点是晶体为平面形状，加工 角掠射到晶面上时，一部分为表面层所散射，其余部 工艺简单；缺点是需要在分光晶体前后设置准直器， 分为晶体内部层散射。在大多数方向上，散射线的 结构复杂，而准直器极大地限制了入射到晶体的光 相位相反，因此发生相消干涉。而 由于在各层所散 通量，对于任一特定波长，样品发出的大部分辐射都 射的射线中按反射定律的反射线的强度最大，当上 损失了，使得晶体的衍射效率不高，应用范围受到限 下两层发出的反射线的