光电耦合器内部气氛长期贮存变化的研究.pdfVIP

第39卷 第6期 电 子 器 件 Vol.39 No.6 2016年12月 ChneseJourna o EecronDevces Dec. 2016 ResearchontheChangeofInternalLong-TermStorage AtmosphereforPhotoelectricCoupler* 1* 1 2 1 ZHOUShuai ，ZHENGDayong ，OUYi ，CHENHaixin （ChinaElectronicProductRelibilityandEnvironmentalTestingResearchInstitute，Guangzhou5 06 0，China； 2Theforty-fourthResearchInstituteofChinaElectronicTechnologyGroupCorporation ，Chongqing400065，China） Abstract：Accordingtotheinternalgasflowprincipleofhermeticsealingdevice，theauthorfirstanalyzedtheini⁃ tialstateoftheinternalatmospherecontentofphotoelectriccouplerandpredicatedthechangestatusoflong-term storage.Then，thepredictionresultsverifiedthroughtheinternalatmosphereanalyzer，provedthatthegasflowtheo⁃ rycouldeffectivelypredicttheinternalatmospherecontentsealedinthephotoelectriccouplerandexposetheweak linksofencapsulationprocessintheinitialstageofdetection.Besides，analyzedtherelationshipbetweenthemea⁃ suringleakagerateandtheactualleakrate，suggestionswereproposedforpredictionaccuracyofinternalatmo⁃ spherelong-termstoragechangeinthephotoelectriccoupler. Keywords：photoelectriccoupler；long-termstorage；gasflowprinciple；internalatmospherechange EEACC：4250 doi：10.3969/j.issn.1005 9490.2016.06.003 光电耦合器内部气氛长期贮存变化的研究* 1* 1 2 1 周 帅 ，郑大勇 ，欧 熠 ，陈海鑫 （1.工业和信息化部电子第五研究所，广州510610；2.中国电子科技集团公司第四十四研究所，重庆400065） 摘 要：根据气密封装器件的内部气体流动原理，对光电耦合器内部气氛含量的初始状态进行了分析，对长期贮存的变化状 态进行了预测，随后采用内部气氛分析仪验证预测结果，证明了气体流量原理能够有效预测光电耦合器封装内部的气氛含量， 并且能够将封装工艺的薄弱环节暴露在检测初始阶段。通过分析测量漏率与真实漏率之间的关系，对提高预测光电耦合器内 部气氛含量长期贮存变化的准确性提出了建议。 关键词：光电耦合器；长期贮存；气体流动原理；内部气氛变化 中图分类号：TN307 文献标识码：A 文章编号：1005 9490（2016）06 1292 05 气密性封装光电耦合器（以下简称光电耦合器）