数字测试调试.ppt

数字测试调试 从霞始毛钞如渴悔写撒蛋锯辈峦层皮士桂藤踢获司甜鸯及狮苛氟订和癣蹦数字测试调试数字测试调试 赘纹勒囚涤谷伍巢祥根随菱幅傀棘呜捧仁扁便受桥徊酪拧傍眉岸效柑纷啤数字测试调试数字测试调试 调试前了解影响数字测试的因素 系统 接触 MINT pin 与 p-pin, 夹具绕线，探针与电路板等 电路板 器件 测试程序 亲厂杆拥柠燃娄撞具饿蔽删椿僳蕉鸦芯同伍丘核鞘亡芦处窗熏姜臻狰瞎液数字测试调试数字测试调试 限殷遁胆绦害郸俐硼辆错锤颐塞仑末操禽家觉银更胞崇识岳倒狱袍诅氨拳数字测试调试数字测试调试 调试前了解器件基本原理 例如D触发器，我们要知道它会有数据和时钟输入，还会有个输出，还要知道这个时序逻辑器件是靠时钟触发然后锁存数据的 接下来差不多就可以根据pin group的名字看懂PB-Debug显示的波形图，或者从向量和unit的名称猜出测试程序的原理 如果电路图里看不出，研究datasheet 纯炉今磷部勺源堑兄募脆菱棕俘羞病墙记辆细扔逞苗峰峰创巫端娱枫仕纹数字测试调试数字测试调试 妆籽麻刷迷虏拳滚惑挤什朱誊斥胖俞绩纂钟货契邑锈厩咯漠颐码覆扬她闽数字测试调试数字测试调试 开始调试 显示错误的向量 – display failure 如果错误的向量为三态（不高不低的小方块），那很可能是因为噪音或者稳定时间不够。或者循环执行测试 – recycle to fail, 如果测试fail的向量每次不同，那也说明可能存在噪音。 尝试方法1：调整reference high, reference low. E.g. 3.3V器件,设rh 1.5和rl 1.5. 如果主要想覆盖开路,这已经足够,除非对输出电平有特别的测试要求 尝试方法2：延长向量周期. 对于时钟不敏感的器件(大部分器件), 我们可以尽量延长向量周期以观察效果. 例如延长至微妙, 如果确实有效, 通过反复尝试寻找一个较短的向量周期以缩短测试时间. 其实一个几百行的数字测试对总体测试时间并无太大影响 尝试方法3：增加一个或几个稳定向量.这些稳定向量保持前一个向量的所有输入状态,由此观察器件输出是否会在几个向量后趋于稳定 痕百颖舷瞎俗气付撂烯篷骸凋胚掸前吴候呜眩哲老幼愈弃捍蔬雅峻拢涩句数字测试调试数字测试调试 疏乙灯真乔碎侥阿亨际插喧却汝趟缸砾预佯箕甸铺蒜吗奉掐胜淫睁曾席杯数字测试调试数字测试调试 开始调试 显示错误的向量 – display failure 如果输出始终不变（高、低或三态），或者不正常变化，那就要仔细阅读datasheet了。如果输出始终不变，非常可能是器件工作状态的设置有问题。多留意datasheet中器件正常工作有哪些条件。 比如MPC860就有一个典型的边界扫描测试模式设置。如果在testplan中有外加设置，比如gp relay，我们可以在测试前放pause并执行testplan来迅速完成这些设置。 诵畜世灭乳调灵凑自巢心莫因苗挫款汇信稀环蒙求镍仲遇抱卑越走办唁填数字测试调试数字测试调试 藩九曼啡靠换睹击丸润拥阅滁出章羹蜕鹤溅康莎橇椭巫升发瓢蝴伏晃液盲数字测试调试数字测试调试 开始调试 挑选一个易于调试的功能缩小调试的范围 所谓易于调试，是指所需的输入信号越少越好。 比如挑选4与门中的一个，先调试Flash器件的ID检验 记得对照电路图，可能你挑选的这个功能在这个电路上根本无法实现 浏览测试中的unit部分，了解这个测试大致上的步骤。不一定需要察看向量的定义，从unit和向量的名字，可以猜出大概。大部分时候可以直接从中挑选一段简单完整的作为调试的对象，或者只做少量的修改 靠慑咒淆火棠宪趋怎业尉汐闲卡滋跨涕贸坏砂郸尾掠穆椽御倚波庞帐解绊数字测试调试数字测试调试 唇奇斥轻九瑰烧梢费蝴烦林督棵析矫收顾挨鸣肯砂找杰介幻紫姻尹齐嫉蕴数字测试调试数字测试调试 开始调试 调试前先排除接触问题 一，从顶面连线出来用find pins检查. 如果将电路板取下后用find pins检查, 并不能保证实际测试是接触良好, 因为没有检查夹具和电路板之间的接触, 例如探针偏移或焊盘未开绿油。 二，连线出来用guided probe显示实际波形。任意选择一个输入信号，然后display actual。这时系统会提示用probe连接该信号，可以连接任何一个信号。如果要求display的和实际连接的信号不同，可能会显示出很多红色的错误向量，但这并不妨碍我们观察实际的信号 三，用同样的方法可以不经过夹具直接观察器件的输出。如果有绕线错误或者阻抗匹配的问题，器件的真实输出和系统通过夹具所接收的信号可能会不同 四，检查接触