螺旋形爆磁压缩发生器跳匝现象分析.pdfVIP

第# 卷 第$ 期 强 激 光 与 粒 子 束 %’( # ，)( $ $**+ $**+ 年$ 月 ,-., /0123 45623 5)7 /538-942 :25;6 =( ， 文章编号： ** @A$$（$**+ ）*$ *A@A *B 螺旋形爆磁压缩发生器跳匝现象分析! 周治伟， 樊 祥， 邹继伟， 张发强 （电子工程学院，合肥$A**A+ ） 摘 要： 分析了螺旋形爆磁压缩发生器的跳匝现象，考虑了膨胀电枢与定子线圈的交线，采用更加精确 的计算模型，得出了更为精确的发生器装配公差表达式，通过计算验证了简化模型的结论可以满足设计要求， 并对电枢表面和电枢壁厚等的不规则因素，以及圆管爆轰的边缘效应导致跳匝作了深入的分析计算。结果表 明：如果电枢的装配公差合适，则可消除由于电枢和定子之间的轴线偏差导致的跳匝现象；圆管爆轰的边缘效 应会导致起爆端部分线匝的磁通损失，因而发生器设计时电枢要比定子线圈长一部分；电枢厚度的径向不均匀 分布会引起电枢的不对称膨胀，从而导致跳匝发生。 关键词： 爆磁压缩发生器； 跳匝； 脉冲功率； 装配公差； 边缘效应 中图分类号： 8)$@B 文献标识码： 5 螺旋形爆磁压缩发生器（,9. ）由于具有较大初始电感和较大的电流和能量放大倍数，被广泛应用于特 殊的物理实验与脉冲功率装置中［］。然而，,9. 的输出特性受到多种不利因素的限制，可以分为欧姆损失和 ［$ A ］ 非欧姆损失两类 。其中欧姆损失主要原因是回路电阻的存在，同时，高频状态下电流的趋肤效应和邻近效 应以及电枢表面的非轴向传导的涡流，也都将导致回路电阻的增大；另外回路导体温度的升高会使金属电导率 下降，从而增大回路欧姆损失。非欧姆损失主要包括跳匝、击穿、磁通延迟等造成的磁通损失［A ］。其中跳匝是 造成磁通损失的重要因素之一，但通过严格的设计可以减少这种损失。本文通过对电枢膨胀过程的系统分析， 来深入分析跳匝现象。 ! #$% 的跳匝现象 ,9. 工作过程中，膨胀的电枢和定子的接触点不再连续滑动，而是发生接触点跨过某段螺线的现象，这 就是通常所说的跳匝。引起跳匝的可能因素很多，包括电枢和定子轴线的不重合（偏心率）、电枢的不对称膨 胀、电枢外表面的不平滑、定子线圈内切面的不规则以及圆管装药爆轰的边缘效应等［@ ］。早期的研究主要集 中于电枢和定子线圈的装配公差以及电枢表面的不平滑度，CD=EF=’ 给出的最大装配公差为［B ］ ! （# $ $ ）JHD! （ ） GHI 式中：! 为电枢和定子轴线的最大距离；# 为定子线圈的匝间距； 为电枢膨胀张角。然而（ ）式是不严格的， ! GHI 后来9K=LDMNK=O 等以及/PDQNM 等进行了相应的精确分析［R + ］，认为膨胀电枢与定子所在圆柱面的交线是一个 平面曲线（实际为空间曲线），交线在圆柱轴线剖面上的投影为直线。这样，当电枢和定子线圈的转配轴线偏 差一定时，交线在圆柱轴线剖面上的投影具有恒定的斜率，从而简化了分析，简化模型如图 所示。螺旋线在 线圈圆柱轴线剖面上的投影为正弦或余弦曲线，文献［R ］根据交线的斜率和正弦曲线的最大斜率得出最大装 配 公差为 ! （# $ $! ）JHD! （$ ） GHI 文献［+ ］对螺旋线作了简化，将螺旋线在其轴线剖面 上的投影视为三角折线，得出的最大装配公差为 ! （# $