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- 2017-06-07 发布于福建
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基干水平集纳米颗粒分割方法
基干水平集纳米颗粒分割方法 摘 要: 纳米颗粒尺寸测量技术对分析材料性能至关重要,而颗粒分割对纳米颗粒的质量评价有重要的意义。基于水平集图像分割方法对纳米颗粒进行分割。首先,利用偏微分方程对纳米颗粒图像进行预处理,针对不同的纳米图像设计合适的滤波方案。在此基础上,基于水平集图像分割算法分割纳米颗粒,分析了三种水平集模型对纳米颗粒的分割性能。实验结果表明,采用RSF水平集分割模型对灰度不均且具有弱边缘的纳米颗粒具有很好的分割效果
关键词: 纳米颗粒; 水平集图像分割; 偏微分方程滤波; RSF分割模型
中图分类号:TP391 文献标志码:A 文章编号:1006-8228(2017)03-01-05
Abstract: Size measurement technique of nanoparticles is critical to the analysis of material properties. Particle segmentation is very important for the quality evaluation of nanoparticles. Nanoparticles are segmented with the level set image segmentation method in this article. Firstly
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