半导体器件基础实验讲义.pdfVIP

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  • 2017-06-07 发布于湖北
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录 实验一 二极管的直流参数测试 实验二 晶体管的直流参数测试 实验三 MIS 结构的高频 C- V 特性测量 实验一 二极管的直流参数测试 一、实验目的 1. 解半导体参数测试仪(Agilent B 1500A )的基本原理及构造。 2. 学会利用半导体参数测试仪(Agilent B 1500A )测量二极管参数,通过试验分析被测 器件的质量及参数异常的原因。 二、实验仪器和待测器件 1. 实验仪器:半导体参数测试仪(Agilent B 1500A )、探针台。 2. 待测器件: (1) 二极管:IN4007 和IN5819 各一只; (2) 限流电阻:25 12 一只 三、实验原理 任何一个半导体器件都可以等效成一个二端或四端网络。要 解该器件的性能和正确 使用及在生产中不断提高产品质量,就要熟悉其输入和输出特性曲线;而通过分析器件 的特性曲线,又可了解器件的参数和质量。这两组特性 线是如何得到的呢?最早的方 法是给被测器件提供不同的偏压和偏流,利用电流表和电压表逐点测试,并根据测试结 果描述出其对应曲线。目前,人们可利用计算机控制加载不同的偏压和偏流,并通过计 算机将数据处理后显示在显示器上。半导体参数测试仪(Agilent B 1500A )就是一种这样 的测试系统。半导体参数测试仪包括偏压和偏流源及测量系统、计算机控制和分析系统 等,电流电压的主要技术指标为:(1)最大电流:100mA ;最小电流测量分辨率:1fA ; (2 )最大电压:100V;最小电压测量分辨率:0.5 V 。 四、实验内容和步骤 二极管的种类很多,按不同用途可为整流管(2CP 系列)、检波管(2AP 系列)、开关 管(2AK 、CK 系列)和稳压管(2CW、2DW 系列)等。但无论哪类二极管,其伏-安特 性示意图如图1-1 所示。因此,只要获取其伏安特性曲线,即可估算其各种参数,并可通 过伏安特性分析其质量。 图1-1 二极管的伏-安特性 (1) 二极管正向特性测试 测试方法和步骤如 : A. 根据二极管的额定参数,选择合适的限流电阻; B. 按图1-2(a) 接入待测二极管 D 和限流电阻R ; C. 逐步加大扫描电压,就可在计算机显示屏上显示出如图1-2(b) 所示的正向伏安特 性。从图1-2(b) 可以得到: (a) (b) 图1-2 二极管接法和正向特性:(a) 接法;(b) 正向伏安特性 2 给定工作电流 的二极管正向电压 V 。例如,给定工作点 Q ,即给定工作电 F 流 I ,就有正向压降 V [见图1-2(b)] 。 FQ FQ V ② 正向直流电阻 RF FQ 。 I FQ V ③ 正向交流电阻 rF FQ 。 I FQ (2) 二极管反向特性测试 测试方法和步骤如 : A. 根据二极管的额定参数,选择合适的限流电阻; B. 按图1-3(a) 接入待测二极管 D 和限流电阻R ; C. 逐步加大扫描电压,就可在计算机显示屏上显示出如图1-3(b)

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