IPFA2009 招展资料.PDF

IPFA 2009 第16届IEEE 国际集成电路物理和失效分析会议 ——设备展览 2 0 0 9 年 7 月 6 -1 0 号 独 墅 湖 高 教 区 I P F A 2 0 0 9 苏 州 , 中 国 第 16 届 IEEE 国际集成电路物理与失效分析会议（IPFA2009 ）由 IEEE 南京分会主办，IEEE Reliability/CPMT/ED 新 加坡分会协办、由 IEEE 电子器件协会与 IEEE 可靠性协会提供技术支持。IPFA2009 是在中国举办的有关集成电路与器件 方面非常专业、非常聚焦的国际会议，IPFA 国际会议论文集是国际检索机构 EI （工程引文检索）的源刊，论文全文被EI 收录与检索。 IPFA 是半导体领域失效分析与可靠性的国际顶级会议。自 1987 年首次在新加坡举办以来，IPFA2009 是首次在中国 举行。本次会议是历届论文数最多的一次会议。吸引了近 1000 名来自中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国及地 区的专家、公司质量经理/工程经理/可靠性经理/ 失效分析经理/ 高层人员、科研院所/相关大学国家重点实验室的科研人 员。 目前录取论文数量已达 300 篇，论文作者来自大学有清华、北大、复旦、上海交大、浙大、科大、北京交大、大连 理工、电子科大、哈工大、吉林大学、同济大学、西安交通大学、台湾清大、台湾大学、台湾国立交通大学、新加坡国立 大学、南洋理工大学、中科院微电子研究所、CNES （法国）、微电子所（奥地利）、台湾工业技术研究院、THALES （法国）等近100 所全球著名院校和研究所。 论文作者来自企业有 AMD 、TSMC （台积电，全球第一晶圆代工厂）、UMC （联电，全球第二晶圆代工厂）、 Chartered （新加坡特许半导体）、SMIC （中芯国际）、CSMC （华润上华）、Samsung （三星）、Tessolve 、FEI 、Spil （矽品）、BYD （比亚迪）、NSC （美国国家半导体）、Hamamatsu 、Infineon （英飞凌）、Freescale （飞思卡尔）、 SSL、Insidix 、ZEISS （卡尔蔡司）、DCG 、尚德太阳能等200 余家世界 500 强企业或国际知名企业。 此次研讨会在苏州举办，为期 5 天，在研讨会场外同期举行 3 天的检测仪器设备展。研讨会茶歇就在展会现场，与会 人员可随时与展商互动交流。参展企业可以通过此次研讨会这个平台为企业的市场推广做铺垫，并帮忙企业提高其市场占 有率和品牌影响力。 部分已确定支持媒体：中国电子失效分析&可靠性网 ，仪器信息网 ，中国分析仪 器网 ，《今日半导体》. IPFA 研讨会历史 1987-首届 IPFA 国际会议由 IEEE 失效分析分会在新加坡举办； 1989-IEEE 可靠性协会的新加坡分会，成为 IEEE 可靠性/CPMT 联合会的新加坡分会。最后自 1994 年起发展为 IEEE 可 靠性协会、IEEE 组件-封装-制造技术协会以及 IEEE 电子器件协会联合会的新加坡分会； 2002 年起每年举行一次。IPFA 已经发展为全球举足轻重的可靠性与失效分析会议组织。在美国，相应的会议为 IRPS （可靠性物理国际会议）和ISTFA （测试与失效分析国际会议）。在欧洲，相应的会议为ESREF （欧洲电子器件可靠性 与失效物理分析会议）； 2002 年- IPFA 成立了技术程序指导委员会（TPSC ），目的是进一步扩大 IPFA 会议组织的国际参与度； 2003 年- IPFA 与 IEEE 器件与材料可靠性杂志（TDMR ）合作，从每年的 IPFA 论文集中挑选部分论文发表在 IEEE TDMR 的特刊上； 2004 年-IPFA 第一次在新加坡以外的地点——台湾新竹举办，在台半导体学术界和企业界反响强烈； 2005 年-在新加坡举行；2006 年-在新加坡举行；2007 年-印度邦加罗尔举行；2008 年-在新加坡举行； 本届 IPFA 2009，将在中国举行。