射频识别(RFID)测试系统.PDFVIP

上海市浦东新区张东路1387 号10 幢02 号 邮编:201203 电话: 021-6879 5660 传真: 021-6879 5670 Info@VI-C www.VI-C 射频识别(RFID)测试系统 系统概述 聚星射频识别测试系统基于 PXI 矢量射频模块和 FPGA 核心 的基带模块，集成了自主研发的射频识别测试软件，具有内建的射 频识别协议栈，能够实时发射并采集射频识别通讯的射频信号，进 行完整的射频参数及协议参数的分析测试。本测试系统结合了先进 的模块化仪器和软件无线电技术，具有软件自定义的特点，可针对 不同的射频识别标准进行测试，支持各种国际标准，国家标准，以 及自定义标准，适用于射频识别协议的仿真，以及产品的研发、 产测试和认证测试。本测试系统能够与自动化测试流程管理软件进 行集成，从而实现高速的自动化在线检测功能和报表 成。 频段 标准 134.2kHz ISO 11785, ISO 14223 13.56MHz ISO 14443 Type A, ISO 14443 Type B, ISO 15693, ISO 18000-3 Mode 1, ISO 18092, EPC HF Class 1 Generation 2, I Code 1 433.92MHz ISO 18000-7 800/900MHz ISO 18000-6 Type A, ISO 18000-6 Type B, ISO 18000-6 Type C, EPC UHF Class 1 Generation 2, GJB 7377.1, GB 29768 2.45GHz ISO 18000-4 Mode 1, GJB 7377.2, GB 28925 硬件构架 测试系统硬件构架 上海市浦东新区张东路1387 号10 幢02 号 邮编:201203 电话: 021-6879 5660 传真: 021-6879 5670 Info@VI-C www.VI-C 射频识别测试系统的硬件构架主要包括模块化仪器以及开放高速总线两个要素，主控制器、 FPGA 基带处理器、射频下变频器和射频上变频器等模块化硬件通过 PXI 或 PXI Express 开放高速总 线交换数据及指令，射频模块之间通过射频电缆传输射频或中频信号，并提供与 RFID 被测单元之间 的射频信号接口。 FPGA 基带处理器用于建立 RFID 无线通讯，控制器用于信号的后续分析和测试流程的控制。测 试过程中控制器发送指令给各功能模块，基带处理器由 FPGA 实时 成基带 IQ 信号，再通过板载 DUC 以及 DAC 转化为中频信号，传送给射频上变频器调制在射频载波上经电缆或天线发送给 RFID 被测单元。从被测单元返回的信号经射频下变频器转化为中频信号后传送给基带处理器，通过板载 ADC 以及DDC 转化为数字基带 IQ 信号，最后通过总线送至控制器进行物理层和协议层各项参数的分 析。 工作模式 针对 RFID 阅读器，标签或系统测试的不同需求，本测试系统可配置为阅读器模拟，标签模拟， 信号监听等不同的测试模式。其中阅读器模拟模式能主动发射指令信号，同时接收和分析标签响应信 号，适用于标签的 合性和性能测试；标签模拟模式能接