X光二維偵測器之應用分析研討會X-RayDiffractionApplicationsby.docVIP

國立成功大學儀器設備中心 掃描電子顯微鏡背散射繞射技術應用研討會 Applications of integrated EBSD and EDS Micro-analysis System Date (Wednesday) Mar. 2nd , 2011 Location 國立成功大學 機械系 三星講堂 Speaker 德國布魯克公司 Dr. Daniel Goran 博士 Inviter 國立成功大學 儀器設備中心 羅裕龍 主任 (Dr. Yu-Lung Lo) 國立成功大學 機械工程系 李驊登教授 (Dr. Hwa-Teng Lee) Schedule 12:50~13:20 Registration time 13:20~13:30 Opening 13:30~15:00 Section I: (Dr. Daniel Goran) - EBSD basic and Importance of EDS integration - Detector Calibration 15:00~15:15 Coffee Break 15:15~16:30 Section II: (Dr. Daniel Goran) - Data manipulation and its meaning - Sample preparation - QA 16:30~17:00 On-site Demonstration Discussion Contact Person 吳福長 技士 Telephone (06) 275-7575#31373 Email z7110006@email.ncku.edu.tw Seating limit 80 Registration Method Please e-mail to z7110006@email.ncku.edu.tw Registration deadline 8am (GMT+8), Mar.1st, 2011 or Registration is full 主辦單位：國立成功大學儀器設備中心 協辦單位：國立成功大學機械工程學系 台灣布魯克生命科學股份有限公司國立成功大學儀器設備中心 掃描電子顯微鏡背散射繞射技術應用研討會 Applications of integrated EBSD and EDS Micro-analysis System FREE Workshop in NCKU 各位學術先進以及產業界朋友大家好： 隨著科技的發展及奈米技術逐漸成熟, 近年來高解析的電子顯微鏡SEM在材料分析相關領域應用大幅增加， 除了常用的EDS作成份分析外, 同時結合各種偵測器或與離子束作樣品切割等技術皆被開發並整合於電子顯微鏡上。 其中EBSD用於半導體, 礦物, 陶瓷, 鋼鐵及金屬材料等應用, 可得到結晶材料的晶體結構, 生長取向, 微區織構, 晶粒大小及晶界性質的材料微結構解析, 但因於舊款硬體限制及操作使用不方便性而在國內一直無法普遍化, 致使其實際應用大幅受限。 為克服此諸多限制, 布魯克公司發展出新一代的EBSD偵測器, 不僅其偵測速度快, 且能在真空狀況下直接作訊號接收角度上的調整, 得到最佳繞射圖譜(菊池圖), 進而能得到最正確結構分析。 另外在軟體上亦有革命性的成就, 除了可對偵測器本身自動校正外, 資料蒐集的策略更大幅縮減了電子顯微鏡的使用時間, 珍惜寶貴的系統資源進而提昇了整體系統的使用效率。 對此強大功能, 成大儀器中心, 機械系及材料系將與 Bruker AXS Inc. 將合辦「掃描電子顯微鏡背散射繞射技術應用」研討會, 希望大家能夠充份熟悉目前中心高階電子顯微鏡之功能，另外針對EBSD之最新技術發展狀況及其應用之部份, 亦特別邀德國原廠EBSD專家 Dr. Daniel Goran至學校演講， 另外樣品準備等的關鍵技術在研討會中亦多有著墨。  國立成功大學儀器設備中心 掃描電子顯微鏡背散射繞射技術應用研討會 Applications of integrated EBSD and EDS Micro-analysis System Workshop attendees will receive unique gifts! Application Form Affiliation: Department: Name Position Daytime Phone Email Addr. *Please email this page to z7110006@email.ncku.edu.tw to register the EBSD Workshop