实验10交流磁化率.doc.doc

實驗十 交流磁化率 磁性物質在外加磁場H 下，其磁偶極M 方向，會傾向沿著外加磁場方向。當外加磁場強度愈大峙，磁性物質所受到的磁化愈強，磁偶極強度愈大，最終會到達一個飽和值。繼之若將磁場降低，對於軟磁性材料而言，磁偶極強度也會隨之減弱;當外加磁場降低到零時，軟磁性材料的磁偶極強度不會歸零，而是保有一個磁偶極強度Mr此現象稱之為殘磁。而將外加磁場反方向增強時，殘留的磁偶極強度會降低，直到反方向外加磁場到達某一特定強度時，才會讓殘留的磁偶極強度消失，此時的外加磁場強度稱之為矯頑力H。當此反方向的外加磁場繼續加強時，磁性材料有會有非零的磁偶極強度。如此的行為會隨著外加磁場強度與方向的改變，讓磁性材料的磁偶極有特定的變化行為，此行為稱之為磁滯曲線。 而當外加磁場是交流磁場且交流頻率不太高時(一般在微波頻率以下) ，磁偶極的方向可隨著此交流磁場，作週期性變化，此即交流磁化率的物理源由。每一瞬間，磁性物質之磁偶極方向不一定與外加交流磁場同方向，因此磁性物質的交流磁化率，可用振幅及相位差來表示。交流磁化量測器Xacf-G搭配上函數產生器與示波器，可供作量測磁性物質在在不同頻率下的交流磁化率χac 的振幅與相位差，並讓使用者了解相位差的具體觀念。亦可透過換算，得到交流磁化率χac的部與虛部。建議之頻率調變範囡由200 HzkHz。值得注意的是，本實驗儀器所形成的外加磁場振幅很小，因此所觀察到的交流磁化率是在磁滯曲線H~處。 量測原理簡介 本量利器中，藉由函數產生器所提供的交流電源，使量測器中的激發線圈產生交流磁場。將待樣品置於此線圈內，利用本量測器中的梯度式訊號擷取線圈，將此交流磁化率訊號轉換成交流電壓訊號，再經過量測器所附的放大線路，最後使用示波器來觀察交流磁化率的振幅及相位。透過改變函數產生器的輸出頻率，可建立樣品交流磁化率χac之振幅及相位差外加磁場頻率f之變化關條，或是交流磁化率χa之實部及虛部外加磁場頻率f之變化關。 實驗步驟 一、梯度式訊號擷取線圍之功能測試 1. 將交流磁化量測器、函數產生器與示波器依照實驗系統架構圖連接。 2. 固定函數產生器輸出頻率為1000 赫茲，電壓峰對峰值為10 伏特的正弦波。 3 . 旋轉交流磁化量測器的切換旋鈕，選擇梯度式訊號擷取線圈為同相串接與反相串接，並觀察示波器CH2 輸出的波形(所擷取之訊號大小) 。分別將示波器於同相串接與反相串接時所觀測到的電壓峰對峰值，紀錄在實驗紀錄表一。 4. 將同相串接與反相串接時所觀測到的電壓峰對峰值相除，計算出此梯度式訊號擷取線圈的平衡度(Balance)誤差百分比。 二、軟磁材料交流磁化率振幅及相位之觀察 1.將交流磁化量測器的切換旋鈕選擇梯度式訊號擷取線圈為反相串接， 並放入待測軟磁樣品芯。2. 將示波器調成交流搞合狀態，另將函數產生器的輸出頻率調整至20 ，調整並紀錄函數產生器的輸出電壓(Vout) ·使得示波器CH所觀測到的波形峰對峰值為l V。 3. 記錄此時示波器CH2 波形的峰對峰值(Vpp) 、週期(T) 、與電壓零點與CH1波形的時間差(Δt) ，如所示。將這些數值紀錄於實驗紀錄表二。 4. 觀察示波器上CH 與CH2 之波形時請注意， CH2 的波形應該位於CH形的右方。這是因為鐵蕊的交流磁偶極與外加磁場會有相位差，且因為交流磁偶極的相位跟不上外加磁場的相位， 導致CH2 的波形位於CH波形的右方。交流磁偶極相對於外加磁場的相位延遲，通常以負值相位表示。 5. 所記錄的CH2 之Vpp 大小正比與鐵蕊在此頻率下之交流磁化率振幅，而相位差θ= -(Δt/T)360o。 三、軟磁材料交流磁化率振幅及相位差隨外加磁場頻率之變化 1. 實驗架構如第二部分，改變函數產生器的頻率(由20 kl位至20 Hz) 重複第二部份的步驟2 及3 將所量到的數值，紀錄於實驗紀錄表二。在每次改變頻率後，必須調整函數產生器輸出電壓，使得示波器CHl 所觀測到的渡形峰對峰值固定為1 V 以確保在各不同頻率下峙，激發線圈所產生的磁場大小是固定的。 2. 經由上述實驗數據，重覆第二部份步驟4 ，計算鐵蕊在不同交流磁場頻率下，其交流磁化率振幅及相位差。將計算結果紀錄於表二，並繪函數產生器輸出電壓-頻率(VVpp-f)、與相位差-頻率(θ-f)的關係圖。 3. 本實驗設計中，由步驟2 所繪的函數產生器輸出電壓﹒頻率(Vout- f)曲線，代表線圈阻抗l這頻率的變化關條。原理上，線圈屬電戚與電阻的串聯元件，阻抗會隨頻率的增加而增大。請確定所繪出函數產生器輸出電壓，頻率(Vout- f)曲線是否符合此特性。 4. 本實驗設計中，由步驟2 所繪的相位差-頻率(θ-f)曲線，理論應會得到在愈高頻率峙，相位差會負的愈大。原因是，交流磁偶極相對於外加磁場的相位延遲，在高頻時會愈明顯。請確定