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无损检测仪器设备的期间核查方法
无损检测仪器设备的期间核查方法
射线检测
曝光曲线的核查方法
1.1核查周期
射线设备均应制作曝光曲线,曝光曲线每年至少核查一次;射线设备更换重要部件或经较大修理后,应及时对曝光曲线进行核查。
1.2准备
准备一块阶梯试块(图1)和2块补充试块,材料与被透照工件相同或相近。其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10(mm)。
胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。
图1 制作曝光曲线的阶梯试块
1.3 透照
各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次,曝光时其他参数(曝光时间、焦距)与制作曝光曲线时一致。得到一组胶片。
表一
管电压(KV)
机型低中高160560100140200580130180250512018023030051402102801.4 暗室处理:按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。
1.5 测定:分别测定底片黑度为3.0(该黑度值与曝光曲线一致)时,对应的阶梯试块厚度。
1.6 核查结果判定:当上述测定的三个厚度值,与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内,曝光曲线合格。否则为不合格,应重新制作。
1.7 曝光曲线核查记录,按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL120”的表格进行记录。
2、黑度计(光学密度计)的核查方法
2.1. 适用范围
本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验,使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。黑度计应每6个月校验一次,标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。
2.2. 校验需用标准器具
检定合格的标准黑度片一个。
2.3 操作步骤
2.3.1 接通黑度计电源和测量开关,预热10min 左右。
2.3.2 用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度,记录测量值。
2.3.3 按3.2的规定反复测量三次。
2.3.3 计算出各点测量值的平均值,以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。
2.3.4 对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过±0.05,否则黑度计应校准、修理或报废。
2.4 记录及标识
校验完毕后在仪器上进行标识,校验人员应按黑度计校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。
2.5 黑度计核查记录按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL121”的表格进行记录。
3、观片灯的亮度和均匀度的核查方法
3.1核查周期
观片灯的亮度和均匀度,应每年进行核查。
3.2 技术要求
3.2.1亮度
观片灯应具有按照照相底片的黑度进行亮度选择的装置。观片灯亮度要求的最小值见表二。
表二
底片黑度观片灯亮度(cd/m2)1.03004.0100000透过射线照相底片的亮度,当底片黑度≤2.5时,应不小于30 cd/m2;当底片黑度2.5时,应不小于10 cd/m2。
3.2.2均匀系数
观察屏各部分应有均匀照明,均匀系数应大于0.5。
3.3 核查方法
3.3.1一般要求
所有的光度测定均在暗室进行,照明光度计必须放在测定范围的中心,而且即使当观察屏完全被遮住后,从观片灯漏出的光不影响测定。
3.3.2核查设备
试验时所用设备须持有国家计量单位签发的有效证书,测量光学参数时所用的亮度计应符合JJG 221的要求。
3.3.3 亮度测定
观片灯亮度测定用亮度计进行。
3.3.4均匀系数测定
照明均匀系数测定用亮度计进行。把观察屏分成若干正方形,正方形每边长3.5cm,分别测定每个正方形的亮度。找出四个最大亮度值和四个最小亮度值,并计算出Lmax和Lmin亮度的算术平均值,均匀系数g=Lmin/Lmax。
3.4 观片灯的亮度和均匀度核查记录按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL122”的表格进行记录。
二、超声检测
1 试块的核查方法
初次使用的标准试块、对比试块,应有有效的合格证书。
标准试块、对比试块每次使用前,应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查;每4年应采用经校准的器具对其半径及其他尺寸进行核查。
超声试块的核查记录按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL123”的表格进行记录。
2 水平线性和垂直线性核查方法
水平线性和垂直线性核查方法见我公司“超声波探伤系统校验规程”,每隔3个月应核查一次。垂直线性核查记录按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL124”的表格进行记录。水平线性核查记录按“文件编号:YTHNDT/QM04–C-JL125”的表格进行记录。
探头使用前主要参数核查方法
探
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