软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体.pdfVIP

物理 学 报 ActaPhys．Sin．Vo1．63，No．21(2o14) 215203 软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体冰 王琛十 安红海 贾果 方智恒 王伟 孟祥富 谢志勇 王世绩 (上海激光等离子体研究所，上海 201800) (2014年4月 1日收到；2014年6月 16日收到修改稿 ) 激光辐照靶产生的等离子体电子密度的诊断对于惯性约束聚变、高能量密度物理等相关领域的研究具有 重要意义，特别是高Z材料等离子体临界面附近的电子密度分布信息的测量．利用软X射线激光作为探针是 诊断等离子体 电子密度分布的一种重要方法，但在诊断激光辐照高Z材料产生 的等离子体研究中，遇到了高 Z材料等离子体自发辐射过大的问题，难 以开展．为此，针对软x射线激光的特点，发展了多种具体的实验技 术．通过综合利用这些技术，大大的抑制了待测等离子体 自发辐射对信号的影响，使得软x射线激光探针诊 断高Z材料等离子体成为可能．作为典型例子，实验诊断了激光辐照金平面靶的等离子体，获得了清晰的实 验 图像，表 明相关的技术是有效和可行的． 关键词：等离子体诊断，激光探针技术，软X射线激光，高Z材料等离子体 PACS：52．70．一m，52．70．La，07．60．Lyj42．55．Vc DOI：10．7498／aps．63．215203 相应理论模拟结果对 比，存在较大的偏差．通过对 1 引 言 这些偏差的研究，为调整理论模拟参数，理解相关 物理过程起到了很好 的作用． 在惯性约束聚变fICF)、高能量密度物理、激光 然而这些研究还是远远不够的，主要表现在待 等离子体相互作用、天体物理模拟等领域的研究中， 诊断等离子体主要是低Z材料，如CH，A1等．低Z 高温稠密等离子体状态演化是重中之重的研究内 材料原子结构、能级相对简单、等离子体 白发辐射 容 [1--14】．目前的主要研究方法是计算机模拟，但 由 小、实验容易实施；同时由于原子参数明确，理论模 于物理过程异常复杂，需要进行相关的实验来进行 拟计算也比较方便．但是高 材料与低Z材料有明 比对校验． 显的不同，仅依靠低Z材料的实验结果标定校对的 利用软X射线激光作为探针诊断激光辐照靶 参数是否对原子结构和物理过程更加复杂的高Z 产生的等离子体 [1--10]是一种可供选择的实验，结 材料等离子体适用，存在疑 问．另一方面，在诸如 构相对简单，但能够反映相应的物理过程．基于软 ICF间接驱动等研究中，高Z材料等离子体的特性 X射线激光波长合适、方 向性好、单色性好 以及具 尤为重要，因此开展利用软X射线激光诊断高Z材 有相干性等特点，这类实验能够给理论模型和计算 料等离子体状态的研究是非常必要的． 程序提供很好的可供校验 的实验样本．从 1994年 本文对利用软x射线激光探针诊断高z材料 开始，包括美国利弗莫尔实验室 (LLNL)在 内的研 等离子体 中的关键 问题，即等离子体 白发辐射噪 究单位就开始开展这方面的研究工作．十几年来， 声过大的问题进行了比较深入 的研究，提出了一 逐步发展了阴影成像法 【】、偏折法 [】、散射法 0【，】、 些具体措施，并用于软X射线激光双频光栅干涉方 干涉法 [5-1o】等多种诊断技术，并在等离子体诊断 法 [10]诊断典型的高z材料Au等离子体的研究，取 方面获得了很好的应用．这些实验获得的结果，与 得了很好的效果． 国家自然科学基金(批准号资助的课题 t通讯作者．E-mail：wangch~mail．