一、内部基准电压模块的使用介绍.PDF

一、内部基准电压模块的使用介绍 SC8F27XX 和 SC8F28XX 系列芯片在内部集成了一个基准电压，其个体间误差范围 大约为 （0.9V-1.2V ），用户可以根据实际情况用来对某些电压点进行监测。使用方法 为：开启AD 转换功能，并将AD 通道选择内部电压基准通道(第 11 通道) ，测试其AD 值。该值表示的是当前电源电压下 AD 输入口的电压为基准电压时，芯片通道所测试得 到的AD 值。 内部基准电压AD 通道使用流程： 1. A/D 转换使能，即 ADC_EN(SYS_GEN.1)=1 ； 2. 设置AD 转换时钟 ADCON[2:1]为第 11 通道，采样通道 ADCON[7:4] ； 3. 置 CONV(ADCON[0])=1 ，触发 AD 转换； 4. 等待至少 1 个 CLK 的延时后，清CONV(ADCON[0])=0 ； 5. 等待 AD 转换结束，判断 EOC(ADCON[3])是否为“1” ，等于“1”代表转换结束； 6. 读取AD 数据 ADDATAH[14H]跟ADDATAL[1BH] ； 7. 根据测试到的 AD 值，通过比例关系换算成当前电压。 例：当前芯片电压下的内部基准电压的AD 值测试程序： BASE_AD_START ： BSF SYS_GEN,ADC_EN ；开启ADC 使能 MOVLW B MOVWF ADCON ；选择电压基准通道(AN11) NOP BSF ADCON,CONV NOP NOP NOP BCF ADCON,CONV ；开始AD 转换 WAIT ： BTFSS ADCON,EOC ；等待AD 转换结束 GOTO WAIT MOVF ADDATAH,0 ；保存AD 转换结果 MOVWF AD_H ;高位AD MOVF ADDATAL,0 MOVWF AD_L ;低位 AD BCF SYS_GEN,ADC_EN ；关断ADC 模块 GOTO XXXX ；AD 转换结束转到其他程序 二、获取存放在 ROM 的基准AD 值 由于有些方案提供给芯片的电压点不确定 ，需要通过内部基准电压来获取对应的 电压值。为了减少测试带来的误差，SC8F27XX 和 SC8F28XX 系列的芯片将内部基准电 压在标准 5V 供电下的 10bit 的AD 值写入了相应的 ROM 空间，用户可以通过程序查表 指令进行访问获取，存放地址为：ROM=1K 的芯片存放在 03FDH 与 03FEH 中 ， ROM=2K 的芯片则存放在 07FDH 与 07FEH 中。(其中 0XFDH 存放 AD 值,0XFEH 存放 AD 值的反码) 需要注意：这两个地址是不能用作程序的其他用途，在编写程序的时候必须避开 这两个地址空间。 例：获取存放在芯片 ROM 的内部基准电压的AD 值： ;当前的芯片选用 1K 的为例 THE_AD_TEST: MOVLW .3 MOVWF TABLE_SPH ;表格高位地址 MOVLW 0FDH MOVWF TABLE_SPL ;表格低位地址 TABLEA MOVWF R01 ;10 位 AD MOVLW 0FEH MOVWF TABLE_SPL ;调用 0FEH 地址 TABLEA MOVWF